High resolution scanning electron m

High resolution scanning electron microscope (HR-SEM, Hitachi S-4300 SE/N SCM)) equipped with energy dispersive spectroscopy (EDAX) on the fracture surface of the TiO2 film.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียดสูงการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HR-SEM ฮิตาชิ S 4300 SE/N SCM)) พร้อมกับพลังงานก dispersive (EDAX) บนพื้นผิวทำให้ฟิล์ม TiO2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูงสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HR-SEM, ฮิตาชิ S-4300 SE / N SCM)) พร้อมกับสเปคโทรกระจายพลังงาน (EDAX) บนพื้นผิวการแตกหักของฟิล์ม TiO2

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( hr-sem , ฮิตาชิ s-4300 เซ / N SCM ) พร้อมกับพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( edax ) บนพื้นผิวที่แตกหักของ TiO2 ฟิล์ม