The XRF method depends on fundament

The XRF method depends on fundamental principles that are common to several other instrumental methods involving interactions between electron beams and x-rays with samples, including: X-ray spectroscopy (e.g., SEM - EDS), X-ray diffraction (XRD), and wavelength dispersive spectroscopy (microprobe WDS).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิธี XRF ขึ้นอยู่กับหลักการพื้นฐานที่เหมือนกับหลายบรรเลงต่าง ๆ เกี่ยวข้องกับการโต้ตอบระหว่างคานอิเล็กตรอนและรังสีเอกซ์ ด้วยตัวอย่าง รวมทั้ง: กเอ็กซ์เรย์ (เช่น SEM - EDS), เอกซเรย์การเลี้ยวเบน (XRD), และความยาวคลื่น dispersive ก (microprobe WDS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วิธี XRF ขึ้นอยู่กับหลักการพื้นฐานที่ต้องใช้ในหลายวิธีที่มีประโยชน์อื่น ๆ ที่เกี่ยวข้องกับการมีปฏิสัมพันธ์ระหว่างคานอิเล็กตรอนและรังสีเอกซ์ที่มีตัวอย่างรวมถึง: เอ็กซ์เรย์สเปกโทรสโก (เช่น SEM - EDS) x-เรย์เลนส์ (XRD) และ ความยาวคลื่นกระจายเปคโทรส (WDS microprobe)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

XRF วิธีขึ้นอยู่กับหลักการพื้นฐานที่เหมือนกับหลาย ๆ ที่เกี่ยวข้องกับเครื่องมือวิธีการปฏิสัมพันธ์ระหว่างอิเล็กตรอนคานรังสีเอกซ์ที่มีตัวอย่างรวมถึง : เอกซ์เรย์ ( เช่น SEM - EDS ) , การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ และความยาวคลื่นกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( ไมโครโพรบ WDS )