VII. ConclusionCrystalline orientat

VII. Conclusion

Crystalline orientations of silicon wafers are different from each other. Mainly, by observingwafer flats we can distinguish silicon wafers physically. Other methods like stereographicprojections, Miller indices are also useful to distinguish silicon wafer & .

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

VII. บทสรุปแนวผลึกของซิลิคอนรับจะแตกต่างกัน ส่วนใหญ่ โดยแฟลต observingwafer เราสามารถแยกรับซิลิคอนจริง วิธีการอื่น ๆ เช่น stereographicprojections ดัชนีมิลเลอร์ก็มีประโยชน์เพื่อแยกซิลิคอนแผ่นเวเฟอร์ < 100 > และ < 111 >

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ปกเกล้าเจ้าอยู่หัว สรุปทิศทางผลึกซิลิคอนเวเฟอร์มีความแตกต่างจากคนอื่น ๆ ส่วนใหญ่โดยแฟลต observingwafer เราสามารถแยกแยะความแตกต่างซิลิคอนเวเฟอร์ร่างกาย วิธีการอื่น ๆ เช่น stereographicprojections ดัชนีมิลเลอร์ยังมีประโยชน์ที่จะแยกแยะซิลิคอนเวเฟอร์ <100> & <111>

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

7 . สรุป

ทิศทางของผลึกซิลิคอนเวเฟอร์จะแตกต่างจากแต่ละอื่น ๆ ส่วนใหญ่ , โดย observingwafer แฟลตเราสามารถแยกแยะซิลิคอนเวเฟอร์ครบ วิธีการอื่น ๆ เช่น stereographicprojections มิลเลอร์ดัชนียังมีประโยชน์ที่จะแยกแยะเวเฟอร์ซิลิคอน < 100 > < 111 &

>