The thickness of the SiOx coatings

The thickness of the SiOx coatings deposited on the silicon wafers was determined by surface profilometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กำหนดความหนาของไม้แปรรูป SiOx ฝากบนรับซิลิคอน โดยผิว profilometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความหนาของสารเคลือบ SiOx วางลงบนซิลิคอนเวเฟอร์ถูกกำหนดโดยพื้นผิว profilometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความหนาของ siox เคลือบเงินบนซิลิคอนเวเฟอร์ ถูกกำหนดโดย profilometry พื้นผิว