The scanning electron microscope (S

The scanning electron microscope (SEM) uses a focused beam of high-energy electrons to generate a variety of signals at the surface of solid specimens

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของการสแกน (SEM) ใช้ลำแสงโฟกัสของอิเล็กตรอน high-energy เพื่อสร้างสัญญาณที่พื้นผิวของแข็งไว้เป็นตัวอย่างที่หลากหลาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ใช้ลำแสงเน้นของอิเล็กตรอนพลังงานสูงในการสร้างความหลากหลายของสัญญาณที่พื้นผิวของตัวอย่างที่เป็นของแข็ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ใช้โฟกัสลำแสงอิเล็กตรอนพลังงานสูงเพิ่มขึ้น เพื่อสร้างความหลากหลายของสัญญาณที่พื้นผิวของชิ้นงานแข็ง