The built-in self-repair concept pr

The built-in self-repair concept presented in this work uses hardware redundancy. For the chip manufacturer, the self-test
procedure can help to simplify the device characterization process by providing greater visibility into the device and can
reduce manufacturing test time by allowing autonomous testing of some subset of the chip.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีการซ่อมแซมตนเองแนวคิดนำเสนอในงานนี้ใช้ฮาร์ดแวร์ซ้ำ ผู้ผลิตชิพ การทดสอบขั้นตอนจะช่วยทำการจำแนกอุปกรณ์ โดยให้มองเห็นอุปกรณ์และสามารถมากขึ้นลดผลิตทดสอบเวลา โดยให้ทดสอบบางชุดย่อยของชิปเขตปกครองตนเอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในตัวแนวคิดซ่อมแซมตัวเองที่นำเสนอในงานนี้ใช้ซ้ำซ้อนฮาร์ดแวร์ สำหรับผู้ผลิตชิปการทดสอบตัวเองขั้นตอนที่สามารถช่วยในการลดความซับซ้อนของกระบวนการอุปกรณ์ตัวละครโดยการให้มองเห็นมากขึ้นในอุปกรณ์และสามารถลดเวลาการผลิตการทดสอบโดยให้ทดสอบอิสระย่อยของชิปบาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการซ่อมแซมตัวเองแนวคิดที่นำเสนอในงานนี้ใช้ความซ้ำซ้อนของฮาร์ดแวร์ สำหรับชิปผู้ผลิต , ขั้นตอนการทดสอบตัวเอง
สามารถช่วยลดอุปกรณ์ลักษณะกระบวนการโดยการให้การมองเห็นมากขึ้นในอุปกรณ์ และสามารถลดเวลาการผลิตโดยให้
ทดสอบการทดสอบอิสระของหน่อยย่อยของชิป