Root Cause :Regarding this product

Root Cause :
Regarding this product request to set FH every lot when change platform from SPEA to
LTX-C for monitor yield and clear line material due to eliminate wafer test step 2 and wait for use new program on final test.


Action taken by owner :
After problem owner monitor result there is no potential risk then no FH require anymore and use new test program on final test already.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รากสาเหตุ:เกี่ยวกับคำขอการตั้ง FH มากทุกผลิตภัณฑ์นี้เมื่อเปลี่ยนแพลตฟอร์มจาก SPEA เพื่อLTX-C สำหรับตรวจสอบผลผลิตและบรรทัดชัดเจนครบกำหนดวัสดุการตัดแผ่นเวเฟอร์ทดสอบขั้นตอนที่ 2 และรอโปรแกรมใหม่ที่ใช้ในการทดสอบขั้นสุดท้ายดำเนินการ โดยเจ้าของ:หลังจากผลการตรวจสอบเจ้าของปัญหา ได้ไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดขึ้น แล้ว FH ไม่ต้องอีกต่อไป และใช้โปรแกรมทดสอบใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รากสาเหตุ:
เกี่ยวกับคำขอผลิตภัณฑ์นี้เพื่อตั้งค่า FH มากทุกเมื่อแพลตฟอร์มเปลี่ยนจาก SPEA เพื่อ
LTX-C สำหรับอัตราผลตอบแทนจากการตรวจสอบวัสดุและเส้นที่ชัดเจนเนื่องจากการขจัดขั้นตอนการทดสอบเวเฟอร์ 2 และรอสำหรับการใช้งานโปรแกรมใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้าย. การดำเนินการดำเนินการโดยเจ้าของ: หลังจากที่ผลการตรวจสอบเจ้าของปัญหาไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดขึ้นแล้วไม่มี FH ต้องการอีกต่อไปและใช้โปรแกรมการทดสอบใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สาเหตุ :
เกี่ยวกับผลิตภัณฑ์นี้ขอชุด FH ทุกล็อตเมื่อเปลี่ยนแพลตฟอร์มจาก spea

ltx-c ผลผลิตและตรวจสอบวัสดุเส้นชัดเจนเนื่องจากการขจัดขั้นตอนที่ 2 การทดสอบเวเฟอร์และคอยใช้โปรแกรมใหม่ในการทดสอบครั้งสุดท้าย


กระทำโดยเจ้าของ :
หลังจากตรวจสอบเจ้าของไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดปัญหาผล แล้วไม่ต้องใช้กระจกอีกต่อไป และทดสอบโปรแกรมใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว