This often results in cracks at the

This often results in cracks at the step edge between the metal electrode and AlN films, leading to short circuiting when the top metallic electrode is deposited.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นี้มักจะส่งผลในรอยแตกที่ขอบขั้นตอนระหว่างอิเล็กโทรดโลหะ AlN ฟิล์ม นำ circuiting สั้นเมื่อฝากอิเล็กโทรดโลหะที่ด้านบน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ซึ่งจะส่งผลมักจะอยู่ในรอยแตกที่ขอบขั้นตอนระหว่างขั้วโลหะและภาพยนตร์ ALN นำไปสู่​​การลัดวงจรเมื่อขั้วโลหะด้านบนจะฝาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นี้มักจะส่งผลในรอยแตกที่ขอบขั้นตอนระหว่างขั้วโลหะและ ALN ภาพยนตร์สั้น circuiting เมื่อนำขั้วโลหะด้านบนจะเข้าบัญชี