Critical point drying allows aceton

Critical point drying allows acetone removal in CO2 without surface tension force that
may distort the sample.
Dehydrated samples were coated with gold
particles for 4 min. The images were taken using a Jeol 35 CF (Japan) scanning electron microscope with a 6 kV acceleration voltage. The micrographs were taken using 1000 magnification.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จุดสำคัญที่ทำให้แห้งให้เอาอะซีโตนใน CO2 ไม่ มีแรงตึงผิวแรงที่อาจทำให้ตัวอย่างตัวอย่างที่อบแห้งถูกเคลือบ ด้วยทองอนุภาคใน 4 นาที ภาพที่ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในการสแกนสำหรับ CF 35 Jeol (ญี่ปุ่น) 6 kV เร่งแรง Micrographs ถูกนำมาใช้ 1000 magnification

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การอบแห้งจุดสำคัญช่วยให้การกำจัดอะซีโตนใน CO2 โดยไม่มีพื้นผิวแรงตึงเครียดที่
อาจบิดเบือนตัวอย่าง.
ตัวอย่างอบแห้งเคลือบด้วยทองคำ
อนุภาค 4 นาที ภาพที่ถูกนำมาใช้ Jeol 35 CF (ญี่ปุ่น) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดด้วยแรงดันเร่ง 6 กิโลโวลต์ ไมโครถูกนำมาใช้ 1,000 ไอออนบวกไฟ Magni

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

จุดวิกฤตให้แห้ง ) กำจัด CO2 โดยไม่มีแรงตึงผิวที่อาจบิดเบือน

ตัวอย่างแห้ง ตัวอย่างที่เคลือบด้วยอนุภาคทอง
4 นาที ภาพที่ถ่ายโดยใช้จอล 35 CF ( ญี่ปุ่น ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดด้วย 6 กิโล เร่งแรงดัน การ micrographs ถูกใช้ 1000 มกนีจึง
ไอออนบวก