In TXRF analysis an important consi

In TXRF analysis an important consideration is the capability of the
instrument to detectwhether an element is present or not in a specimen
and to be able to show with some defined statistical certainty that a
given element is present if its concentration is greater than a lower
limit of detection (LLD) (Rousseau, 2001). The LLD, which in this
study is assumed to be the concentration equivalent to three standard
counting errors of a set of measurements of the background intensity
(Bruker, 2007), was calculated using the following formula

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

TXRF วิเคราะห์พิจารณาความสำคัญเป็นความสามารถในการเครื่องมือการ detectwhether องค์จะอยู่ หรือไม่อยู่ ในสิ่งส่งตรวจและสามารถแสดงกับกำหนดแน่นอนสถิติที่เป็นกำหนดองค์ประกอบอยู่ถ้าความเข้มข้นมากกว่าที่ต่ำกว่าขีดจำกัดของการตรวจสอบ (LLD) (Rousseau, 2001) LLD ซึ่งในที่นี้การศึกษาจะถือ ความเข้มข้นเทียบเท่ากับมาตรฐานที่ 3นับข้อผิดพลาดของชุดของการวัดความเข้มของพื้นหลัง(Bruker, 2007), คำนวณโดยใช้สูตรต่อไปนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในการวิเคราะห์ TXRF การพิจารณาที่สำคัญคือความสามารถของ
เครื่องมือที่ใช้ในการ detectwhether องค์ประกอบที่เป็นปัจจุบันหรือไม่ได้อยู่ในชิ้นงาน
และเพื่อให้สามารถที่จะแสดงกับความเชื่อมั่นทางสถิติบางอย่างที่กำหนด
องค์ประกอบที่กำหนดเป็นปัจจุบันถ้าความเข้มข้นมีค่ามากกว่าที่ต่ำกว่า
ขีด จำกัด ของ การตรวจสอบ (แนวหน้า) (Rousseau, 2001) แนวหน้าซึ่งใน
การศึกษาจะถือว่าเทียบเท่าความเข้มข้นถึงสามมาตรฐาน
ข้อผิดพลาดการนับของการตั้งค่าของการวัดความเข้มของพื้นหลัง
(Bruker 2007) ได้รับการคำนวณโดยใช้สูตรต่อไปนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในการวิเคราะห์ txrf การพิจารณาที่สำคัญคือ ความสามารถของเครื่องมือ detectwhether
องค์ประกอบปัจจุบันหรือไม่ในตัวอย่าง
และสามารถที่จะแสดง มีกำหนดแน่นอนสถิติที่
องค์ประกอบที่กำหนดเป็นปัจจุบันหากความเข้มข้นของมันมากกว่าขีดจำกัดล่าง
ตรวจจับ ( นิติศาสตรดุษฎีบัณฑิต ) ( Rousseau , 2001 ) และนิติศาสตรดุษฎีบัณฑิต ซึ่งในเรื่องนี้
การศึกษาจะถือว่ามีความเข้มข้นเท่ากับสามมาตรฐาน
นับข้อผิดพลาดของชุดของการวัดของพื้นหลังเข้ม
( BRUKER 2007 ) คำนวณได้โดยใช้สูตรต่อไปนี้