(In case an x-ray diffractometer is

(In case an x-ray diffractometer is not available, or if you are not able to record the diffraction pattern for some reason, the x-ray diffraction patterns for Cr, Cu, Fe, Ni, Si, and TiN are provided in Figs. 1.2 through 1.7, and the 2θ values of all the reflections are lised in the work tables provided for each different material)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

(ใน กรณีที่ไม่มีการ x-ray diffractometer หรือถ้าคุณไม่สามารถบันทึกรูปแบบการเลี้ยวเบนด้วยเหตุผลบางอย่าง รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์สำหรับ Cr, Cu, Fe, Ni, Si และดีบุกเป็นบริการในมะเดื่อ. 1.2 1.7 และ 2θ ค่าของแสงสะท้อนทั้งหมดถูก lised ในตารางการทำงานสำหรับแต่ละวัสดุที่แตกต่าง)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

(ในกรณีที่มีการ diffractometer เอ็กซ์เรย์ไม่สามารถใช้ได้หรือถ้าคุณไม่สามารถที่จะบันทึกรูปแบบการเลี้ยวเบนด้วยเหตุผลบางอย่าง X-ray รูปแบบการเลี้ยวเบนสำหรับ Cr, Cu, Fe, Ni, Si, ดีบุกและมีไว้ในมะเดื่อ . 1.2 ผ่าน 1.7 และค่า2θสะท้อนทั้งหมดจะ lised ในตารางการทำงานที่มีให้สำหรับวัสดุที่แตกต่างกันในแต่ละครั้ง)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

( ในกรณีเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ไม่สามารถใช้ได้ หรือถ้าคุณไม่สามารถที่จะบันทึกรูปแบบการเลี้ยวเบนสำหรับเหตุผลบางอย่าง รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์สำหรับโครเมียม , Cu , Fe , Ni , Si , ดีบุกไว้ลูกมะเดื่อ . 1.2 ผ่าน 1.7 และค่า 2 θของภาพสะท้อนทั้งหมดจะ lised ในงานตารางให้แต่ละที่แตกต่างกันวัสดุ )