2.6.3. Scanning electron microscopy (SEM)
Morphology of surface and freeze-fractured cross-section of film samples were visualised using a scanning electron microscope (SEM) (Quanta400, FEI, Eindhoven, the Netherlands) at an accelerating voltage of 15 kV. Prior to visualisation, the film samples were mounted on brass stub and sputtered with gold in order to make the sample conductive, and photographs were taken at 7000× magnification for surface visualisation. For cross-section, freeze-fractured films were mounted around stubs using double sided adhesive tape, coated with gold and observed at the 3500× magnification.
2.6.3 . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )
6 พื้นผิวและขนาดของตัวอย่างภาพยนตร์ถูกแช่แข็งแตกมองเห็นโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( quanta400 Fei , Eindhoven , เนเธอร์แลนด์ ) ที่เร่งแรงดัน 15 kV . ก่อนการแสดง , ภาพยนตร์ตัวอย่างที่ติดตั้งบนโครงทองเหลืองและ sputtered กับทองเพื่อให้ตัวอย่างเป็นสื่อกระแสไฟฟ้า ,และถ่ายรูปที่ 7000 ×ขยายสำหรับภาพพื้นผิว สำหรับตัด , ตรึงฟิล์มหักติดรอบตอใช้สองหน้าเทปกาว , เคลือบด้วยทองคำ และสังเกตที่ 3 ×ขยาย .
การแปล กรุณารอสักครู่..