The AFM was calibrated using a 21.5

The AFM was calibrated using a 21.5 ± 1 nm step height Z axis calibration grating (TGZ1 from NT-MDT). The mean thickness was measured thanks to a mark left by a permanent marker on the substrate surface prior to gold deposition. After which it was dissolved away with ethanol. 2.6. Conductivity of gold film

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

AFM ถูกปรับเทียบการใช้ 21.5 ± 1 nm ขั้นสูง Z แกนเทียบ grating (TGZ1 จาก NT MDT) ความหนาเฉลี่ยที่วัด ด้วยเครื่องที่เหลือ โดยเครื่องหมายถาวรบนพื้นผิวพื้นผิวก่อนที่จะสะสมทอง หลังจากที่มันถูกส่วนยุบไป ด้วยเอทานอล 2.6 การนำฟิล์มทอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

AFM ได้รับการสอบเทียบการใช้ 21.5 ± 1 นาโนเมตรความสูงขั้นตอนการสอบเทียบตะแกรง Z แกน (TGZ1 จาก NT-MDT) ความหนาเฉลี่ยวัดขอบคุณเครื่องหมายซ้ายโดยเครื่องหมายถาวรบนพื้นผิวก่อนที่จะมีการสะสมทอง หลังจากที่มันถูกกลืนหายไปกับเอทานอล 2.6 การนำของภาพยนตร์เรื่องทอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM คือการปรับ 21.5 ± 1 nm ขั้นความสูงแกน Z แบบตะแกรง ( tgz1 จาก nt-mdt ) ค่าเฉลี่ยความหนาวัดขอบคุณเครื่องหมายซ้ายโดยถาวรเครื่องหมายบนพื้นผิวพื้นผิวก่อนการเคลือบทอง หลังจากที่มันถูกละลายด้วยเอทานอล 2.6 ค่าการนำไฟฟ้าของฟิล์มทอง