Transmission electron microscopy (T

Transmission electron microscopy (TEM)
The dispersion quality of the nanoparticles within the matrix and the nanostructures of the nanocomposites were investigated using a transmission electron microscope (TEM) on a Philips EM208 microscope (Netherlands), operated at 100 kV. The samples were microtomed at -160 C.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่งชาวดัตช์ (TEM)คุณภาพการกระจายตัวของเก็บกักอยู่ในเมทริกซ์และ nanostructures ของสิทเหล่านี้ถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) บนกล้องจุลทรรศน์ Philips EM208 (เนเธอร์แลนด์), ดำเนินการ 100 kV ตัวอย่างได้ที่-160 C. microtomed

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เกียร์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM)
คุณภาพการกระจายตัวของอนุภาคนาโนภายในเมทริกซ์และโครงสร้างนาโนของนาโนคอมพอสิตที่ถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) บนกล้องจุลทรรศน์ Philips EM208 (เนเธอร์แลนด์) ดำเนินการที่ 100 กิโลโวลต์ กลุ่มตัวอย่างเป็น microtomed ที่ -160 องศาเซลเซียส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM )การกระจายคุณภาพของอนุภาคภายในเมทริกซ์และนาโนของนาโนคอมโพสิตถูกศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ( TEM ) ฟิลิปส์ em208 กล้องจุลทรรศน์ ( เนเธอร์แลนด์ ) , ดำเนินการ 100 KV . จำนวน microtomed ที่ - 160 C