Transmission electron microscopic (

Transmission electron microscopic (TEM) images were observed using Tecnai G2 Spirit transmission electronmicroscope (FEI, Hillsboro, OR, USA) at 200 kV equipped withan energy-dispersive X-ray (EDX) spectrometer

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพ (TEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่งถูกตั้งข้อสังเกตใช้ electronmicroscope ส่งวิญญาณ G2 Tecnai (FEI, Hillsboro หรือ สหรัฐอเมริกา) ที่ 200 kV พร้อมกับพลังงาน dispersive X-ray (เห็น EDX) สเปกโตรมิเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การส่งผ่านอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ (TEM) ภาพที่ถูกตั้งข้อสังเกตการใช้ Tecnai G2 วิญญาณส่ง electronmicroscope (FEI โบโร, OR, USA) ที่ 200 กิโลโวลต์ติดตั้งวิธานพลังงานกระจาย X-ray (EDX) สเปกโตรมิเตอร์