As a matter of fact, the test circu

As a matter of fact, the test circuit configuration can influence the measurement, since 687 SEB events could be acquired
without affecting the DUT using configuration 2.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เป็นแท้ที่จริง ค่าวงจรทดสอบสามารถมีอิทธิพลต่อการประเมิน ตั้งแต่เหตุการณ์ SEB 687 สามารถรับได้โดยไม่กระทบกับบิลพัสดุ์ที่ใช้กำหนดค่าที่ 2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เป็นเรื่องของความเป็นจริงการกำหนดค่าทดสอบวงจรสามารถมีอิทธิพลต่อการวัดตั้งแต่ 687 เหตุการณ์ SEB อาจจะได้มา
โดยไม่มีผลต่อ DUT โดยใช้การกำหนดค่า 2