Fig. 2. X-ray diffraction curves of

Fig. 2. X-ray diffraction curves of Bi-Te films, as-deposited and annealed at different temperatures for 8 h Ithe peak at around 33 is an artifact peak from Si (002)].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 2 เส้นโค้งเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนของ Bi-Te ฟิล์ม เป็นฝาก และ annealed ที่อุณหภูมิแตกต่างกันสำหรับ 8 h Ithe สูงสุดที่ประมาณ 33 เป็นการยอดสิ่งประดิษฐ์จากศรี (002)]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 2. เส้นโค้งเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของภาพยนตร์ Bi-Te เช่นฝากและอบที่อุณหภูมิที่แตกต่างกันเป็นเวลา 8 ชั่วโมง ithe สูงสุดที่ประมาณ 33 ยอดสิ่งประดิษฐ์จากศรี (002)]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ของบีเทโค้งฟิล์มที่ฝากและอบที่อุณหภูมิแตกต่างกัน 8 H พัฒนาการสูงสุดในรอบ 33 เป็นยอดสิ่งประดิษฐ์จากศรี ( 002 ) ]