D.J.C Mac Kay, R. M. Neal. Near Sha

D.J.C Mac Kay, R. M. Neal. Near Shannon limit performance of low
density parity check codes [J]. Electronics Letters, 1996, 32(18): 1645-
1646.
M Sipser and D Spielman, Expander Codes, IEEE Trans. Inform.
Theory, 42(6): 1710-1722, November 1996.
He Heyun, Principle and Application of LDPC [M]. The People's Posts
and Telecommunications Press. 2009.50-80.
Zhang Tianyu, Modified LLR BP Decoding Algorithm of LDPC Codes
with Loops [J]. Journal of Wuhan University of Technology. 2010,
32(10): 174-178.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แม็คเคย์ d.j.c, r เมตร โอนีล ใกล้ขีด จำกัด ของประสิทธิภาพการทำงานของ shannon
ความหนาแน่นต่ำรหัสตรวจสอบความเท่าเทียมกัน [j] จดหมายอิเล็กทรอนิกส์, 1996, 32 (18): 1645 - 1646

เมตร sipser และง Spielman รหัสแผ่อีอีอีทรานส์. แจ้ง
ทฤษฎี, 42 (6):.. 1710-1722, พฤศจิกายน 1996
เขา heyun หลักการและการประยุกต์ใช้ ldpc [ม] การโพสต์ของผู้คนและการสื่อสารโทรคมนาคม
กด 2,009.50-80.
zhang Tianyu,ขั้นตอนวิธีการถอดรหัส LLR แก้ไข bp ของรหัส ldpc
ด้วยลูป [j] วารสารของมหาวิทยาลัยหวู่ฮั่นเทคโนโลยี 2010,
32 (10):. 174-178

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เคย์แม็ค D.J.C, R. M. นีล ใกล้แชนนอนจำกัดประสิทธิภาพต่ำ
[J] รหัสตรวจสอบพาริตี้ความหนาแน่น จดหมายอิเล็กทรอนิกส์ 1996, 32(18): 1645-
1646.
M Sipser และ D Spielman รหัส Expander โอนย้าย IEEE แจ้ง
ทฤษฎี 42(6): 1710-1722, 1996 พฤศจิกายน
เขา Heyun หลักการ และประยุกต์ LDPC [M] บทความของคน
กดโทรคมนาคมและการ 2009.50-80.
จางเทียนยู่ ปรับเปลี่ยนอัลกอริทึมรหัส LDPC ถอดรหัส BP LLR
กับลูป [J] สมุดรายวันของฮั่นมหาวิทยาลัยเทคโนโลยี 2010,
32(10): 174-178

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

D . J . C . R . M . MAC Kay เรียน. อยู่ใกล้กับน้ำตก Shannon จำกัดการทำงานของรหัสการตรวจสอบ Parity ต่ำความหนาแน่น
j [] จดหมายอิเล็กทรอนิกส์ 199632 ( 18 ) 1645 -
1646 . N ม. sipser D spielman และขยายรหัส IEEE บริษัทข้ามชาติ. แจ้งให้ทราบ.
ทฤษฎี 42 ( 6 ) 1710-1722 เดือนพฤศจิกายน 1996 .
เขา heyun แอปพลิเคชันและหลักการของ ldpc [ม.] ของผู้คนที่โพสต์
และการติดต่อสื่อสารกด. 2009.50-80 ..
จาง Tianyu Great Wallแก้ไข llr BP อัลกอริธึมการเข้ารหัส ldpc รหัส
พร้อมด้วยเส้นทาง[ J ] Journal of the หวู่ฮั่น University of Technology 2010
32 ( 10 ) 174-178 .