Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) micrographs proved that 5.0 phr of ALK
in the silica-filled NR compound exhibited the greatest matrix tearing line and surface
roughness due to higher reinforcement level of the silica, as well as better dispersion and cure enhancement.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน micrographs อิเล็กตรอน (SEM) พิสูจน์ที่ phr 5.0 ของ ALKใน NR เติมซิลิกา สารแสดงเมตริกซ์สุดฉีกเส้นและพื้นผิวความหยาบเนื่องจากการเสริมแรงในระดับสูงขึ้นการซิลิกา ตลอดจนเพิ่มประสิทธิภาพการกระจายและการรักษาดีกว่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ไมโครพิสูจน์ให้เห็นว่า 5.0 PHR ของ ALK
ในซิลิกาที่เต็มไปด้วยสาร NR แสดงเส้นเมทริกซ์ฉีกขาดที่ยิ่งใหญ่ที่สุดและพื้นผิว
ที่ขรุขระเนื่องจากการเสริมแรงระดับที่สูงขึ้นของซิลิกาเช่นเดียวกับการกระจายตัวของการเพิ่มประสิทธิภาพและการรักษาที่ดีขึ้น