X-ray diffraction (XRD) patterns of

X-ray diffraction (XRD) patterns of the F. thunbergii flours were analyzed using Rigaku D/max 2500 X-ray powder diffraction(Rigaku, Tokyo, Japan) with nickel-filtered Cu K radiation( = 1.54056˚A) running at 40 kV and 200 mA. The scattered radi-ation was detected in the angular range of 4–45◦2

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ของแป้ง thunbergii F. ถูกวิเคราะห์โดยใช้ X-ray Rigaku D สูง 2500 กระจายผง (Rigaku โตเกียว ญี่ปุ่น) กับกรองนิกเกิล Cu K (= 1.54056˚A) ทำงานที่ 40 kV และ 200 mA การกระจาย radi ต้องตรวจพบในระยะเชิงมุมของ 4 – 45◦2