X-ray diffraction (XRD) was employe

X-ray diffraction (XRD) was employed for analyzing the crystalline phase of GO, rGO, TNFs and TNFG-2 (as a representative composite) as shown in Fig. 1A. The XRD pattern of GO revealed (002) a diffraction peak at 2h = 10.7 corresponding to the d-spacing of 0.83 nm [8,37].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกลูกจ้างสำหรับการวิเคราะห์ระยะผลึกของไป rGO, TNFs และ TNFG-2 (เป็นคอมโพสิตตัวแทน) เป็นแสดงใน Fig. 1A รูปแบบ XRD ของไปเปิดเผย (002) สูงสุดการเลี้ยวเบนที่ 2 h = 10.7 ที่สอดคล้องกับ d-ระยะห่างของ 0.83 nm [8,37]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) ถูกจ้างสำหรับการวิเคราะห์ผลึกของ GO, RGO, TNFs และ TNFG-2 (คอมโพสิตเป็นตัวแทน) ดังแสดงในรูป 1A รูปแบบ XRD ของ GO เปิดเผย (002) ยอดเลนส์ที่ 2h = 10.7? ที่สอดคล้องกับ D-ระยะห่าง 0.83 นาโนเมตร [8,37]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) เป็นเครื่องมือในการวิเคราะห์เฟสผลึกของไป rgo tnfs , และ tnfg-2 ( ในฐานะตัวแทนคอมโพสิต ) ดังแสดงในรูปที่ 1 . วิเคราะห์รูปแบบของเปิดเผย ( 002 ) โดยสูงสุดที่ 2h = 10.7  สอดคล้องกับ d-spacing ของ 0.83 nm [ 8,37 ]