of a ZnO block is very small compar

of a ZnO block is very small compared with the physical thickness. Microscopic photography measurements showed that the ratio of sample thickness to dielectric thickness was about 1000. The direct effect of this reduced thickness would be the increase of the observed capacitance. Consequently, the permittivity of the material would not necessarily be as high as the calculated values from the experimental data. The nature of the additives is clearly shown to influence the measured values of both capacitance and dissipation factor [50, 115]. A more plausible explanation is based on the existence of depletion layers in the ZnO grains adjacent to the intergranular layer and the trapping of electrons at the interface. The net effect of the former is the rise of the material capacitance [38]. Extensive characterisation work [38, 42, 50, 115, 116] used bridges, Q-meters and
transmission line techniques over a wide range of frequency (30–108 Hz). In order to validate the application of dielectric theory, the measurements were performed at very low stresses, well below the knee of conduction, where the conduction in ZnO material is linear. A decreasing dielectric constant with increasing frequency was measured (Figure 5.17). Measurements at higher frequencies (1 MHz–1 GHz) on a sample 0.162 cm thick and 0.305 cm in diameter confirmed a relative permittivity for the material of about 900, and microwave transmission line techniques revealed an inductance value of about 0.35 nH associated with the body of the ZnO sample. The dielectric constant measured with polarisation current techniques [116] shows a decrease with increasing frequency and a strong temperature dependence at very low frequencies below 100 Hz. The dissipation factor, however, was found first to decrease with increasing frequency,to a minimum between 1–10 kHz, and then increased to reach a peak at around 300 kHz. Finally, it decreased for higher frequencies. The observed peak is reminiscent of a typical broadened Debye resonance [117]. In this range of frequency, tan δ

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ของ ZnO เป็น บล็อกได้ขนาดเล็กมากเมื่อเทียบกับความหนาจริง วัดถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์พบว่า อัตราส่วนของความหนาความหนาเป็นฉนวนอย่างถูกราคาประมาณ 1000 ผลกระทบโดยตรงของความหนาที่ลดลงนี้จะเพิ่มความสังเกต ดังนั้น permittivity ของวัสดุจะไม่จำเป็นต้องสูงถึงค่าคำนวณได้จากข้อมูลทดลอง ชัดเจนมีแสดงลักษณะของสารมีผลต่อการวัดค่าของค่าความจุและกระจายปัจจัย [50, 115] คำอธิบายเพิ่มเติมเป็นไปได้ขึ้นอยู่กับการดำรงอยู่ของชั้นจนหมดในธัญพืช ZnO อยู่ติดกับชั้น intergranular และดักของอิเล็กตรอนที่อินเทอร์เฟซ ผลสุทธิของเดิมคือ การเพิ่มขึ้นของค่าความจุวัสดุ [38] ตรวจลักษณะอย่างละเอียดเฉพาะของงาน [38, 42, 50, 115, 116] ใช้สะพาน Q เมตร และ
เทคนิคเส้นส่งช่วงกว้างของความถี่ (Hz 30-108) เพื่อตรวจสอบการประยุกต์ใช้ทฤษฎีเป็นฉนวน การประเมินดำเนินที่เครียดมาก ใต้เข่าของนำ ดีที่นำในวัสดุ ZnO เป็นเชิงเส้น มีวัดค่าคง dielectric ลดลงพร้อมเพิ่มความถี่ (รูป 5.17) วัดที่ความถี่สูง (1 MHz-1 GHz) บนตัวอย่าง 0.162 ซม.หนา และ 0.305 ซม.เส้นผ่าศูนย์กลางยืนยัน permittivity ญาติสำหรับวัสดุของประมาณ 900 และไมโครเวฟส่งบรรทัดเทคนิคเปิดเผยค่า inductance ของเกี่ยวกับเอ็นที่เกี่ยวข้องกับเนื้อหาของตัวอย่างของ ZnO 0.35 ค่าคงของ dielectric ที่วัด ด้วยเทคนิคปัจจุบันเร่ง [116] แสดงลดลงพร้อมเพิ่มความถี่และอุณหภูมิแข็งแรงพึ่งพาความถี่ต่ำมากต่ำกว่า 100 Hz ตัวกระจาย อย่างไรก็ตาม ถูกพบครั้งแรกลดพร้อมเพิ่มความถี่ ต่ำสุดระหว่าง 1-10 kHz แล้ว เพิ่มขึ้นถึงจุดสูงสุดที่ประมาณ 300 kHz สุดท้าย มันลดลงสำหรับความถี่สูง สูงสุดที่สังเกตได้ของแบบทั่วไป broadened Debye สั่นพ้อง [117] ในช่วงนี้ความถี่ ตาลδ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ของ ZnO บล็อกมีขนาดเล็กมากเมื่อเทียบกับความหนาของร่างกาย วัดการถ่ายภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์ พบว่า อัตราส่วนของความหนา ความหนาฉนวนตัวอย่างประมาณ 1000 ผลโดยตรงของการลดลงนี้จะเพิ่มความหนาและความจุ . จากนั้นการป้อนของวัสดุจะไม่จําเป็นต้องสูงเท่าคำนวณค่าจากการทดลอง ธรรมชาติของสารเคมีที่ชัดเจนแสดงอิทธิพลค่าวัดของทั้งความจุและปัจจัยการกระจาย [ 50 , 115 ]คำอธิบายที่เป็นไปได้มากขึ้นขึ้นอยู่กับการดำรงอยู่ของการชั้นใน ZnO ธัญพืชติดกับชั้นขอบเกรนและดักของอิเล็กตรอนที่อินเตอร์เฟซ ผลสุทธิของอดีตคือการเพิ่มขึ้นของความจุของวัสดุ [ 38 ] ศึกษางานอย่างละเอียด [ 38 , 42 , 50 , 115 , 116 ] ใช้ q-meters
และสะพานสายส่งเทคนิคกว่าช่วงกว้างของความถี่ ( 30 Hz ( 108 ) เพื่อที่จะตรวจสอบการประยุกต์ทฤษฎี dielectric วัดจำนวนที่น้อยมาก เน้น ดีใต้เข่าสื่อที่นำวัสดุซิงค์ออกไซด์เป็นเชิงเส้น การลดลงคงที่กับความถี่ที่เพิ่มขึ้นได้ ( รูปที่ 5.17 )วัดที่ความถี่สูง ( 1 MHz - 1 GHz ) ในตัวอย่าง 0.162 cm หนาและ 0.305 เซนติเมตรได้รับการยืนยันเมื่อป้อนวัสดุของเกี่ยวกับ 900 และเทคนิคสายส่งไมโครเวฟเปิดเผยหรือมูลค่าประมาณ 0.35 NH ที่เกี่ยวข้องกับร่างกายของ ZnO ตัวอย่างสมบัติไดอิเล็กทริกคงที่วัดที่มีโพลาไรเซชันปัจจุบันเทคนิค [ 116 ] แสดงให้เห็นการลดลงที่มีความถี่เพิ่มขึ้นและแข็งแรงมากน้อยขึ้นกับอุณหภูมิ ที่ความถี่ต่ำกว่า 100 Hz . การกระจายปัจจัย พบครั้งแรกที่ลดลงความถี่เพิ่มขึ้น เพื่ออย่างน้อยระหว่าง 1 – 10 kHz และจากนั้นเพิ่มขึ้นถึงจุดสูงสุดในรอบ 300 กิโลเฮิรตซ์ ในที่สุดมันลดลงสำหรับความถี่สูง สังเกตที่ยอดเป็นรำลึกของทั่วไปวงกว้าง ดีบายแนนซ์ [ 117 ] ในช่วงของความถี่ δ
แทน