Scanning electron microscopy involv

Scanning electron microscopy involves simpler specimen preparations than TEM. Both Oso4 and Ruo4 staining techniques work with SEM and can be applied to both bulk specimens and films. Atomic force microscopy is an extension of scanning tunneling microscope(STM) and has the potential for atomic resolution. In its simplest form, the AFM(Stroup et al., 1993; Stocker et al., 1992; Tsao et al., 1992; Hamada and Kaneko, 1992) acts as a "miniature surface profilometer" and provides topographical images. The potential advantages of these techniques include higher resolution, simplicity

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนอิเล็กตรอนเกี่ยวข้องกับการเตรียมการอย่างเรียบง่ายกว่า TEM ทั้ง Oso4 และ Ruo4 สีผมเทคนิคการทำงานกับ SEM และสามารถใช้กับตัวอย่างจำนวนมากและภาพยนตร์ ไมโครสโคแรงอะตอมเป็นส่วนขยายของการสแกน microscope(STM) อุโมงค์ และมีศักยภาพสำหรับความละเอียดของอะตอม รูปแบบที่ง่ายที่สุด ด้าน (Stroup et al. 1993 Stocker et al. 1992 Tsao et al. 1992 ฮามาดะและพุด 1992) และในฐานะ "เล็กผิว profilometer" และให้ภาพภูมิประเทศภาพ ข้อดีอาจเกิดขึ้นของเทคนิคเหล่านี้มีความละเอียดสูง ความเรียบง่าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนเกี่ยวข้องกับการเตรียมชิ้นงานที่เรียบง่ายกว่า TEM ทั้งสอง Oso4 และเทคนิคการย้อมสี Ruo4 ทำงานกับ SEM และสามารถนำไปใช้กับทั้งกลุ่มตัวอย่างและภาพยนตร์ กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมเป็นส่วนขยายของกล้องจุลทรรศน์อุโมงค์ (STM) และมีศักยภาพในการอะตอม ในรูปแบบที่ง่ายที่สุดที่ AFM (Stroup et al, 1993;. Stocker et al, 1992;. Tsao et al, 1992;. มะดะและ Kaneko, 1992) ทำหน้าที่เป็น "พื้นผิวขนาดเล็ก Profilometer" และให้ภาพภ​​ูมิประเทศ ข้อได้เปรียบที่มีศักยภาพของเทคนิคเหล่านี้รวมถึงความละเอียดสูงกว่าความเรียบง่าย