Fig. 2 shows X-ray diffraction patt

Fig. 2 shows X-ray diffraction patterns from the YSZ samples annealed at 750 C and 1450 C.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 2 แสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์จากตัวอย่าง YSZ annealed ที่ 750 C และ 1450 c

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 2 แสดงให้เห็นว่าเอ็กซ์เรย์รูปแบบการเลี้ยวเบนจากตัวอย่าง YSZ อบที่ 750 องศาเซลเซียสและ 1450 องศาเซลเซียส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 แสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ ซึ่งจากตัวอย่างที่ 750 องศาเซลเซียส อบ  1450  C