The aforementioned specimens all po

The aforementioned specimens all possessed ridges on their EDMed surfaces and the ridges increased with silicon content. However, it is difficult to distinguish the EDMed surface from the SEM evidence. The craters on the EDMed surface were first investigated with the surface roughness measurer to quantitatively measure the average ridge number of discharge craters, and the moving tracks of the probe were recorded. Figure 7 shows that under specific EDM conditions, a specimen with the highest silicon content (29Si) presents the highest average ridge number following EDM. Figure 8 shows that when the silicon content increased, the ridge density value on the EDMed surface markedly increased with the area fraction of eutectic and primary silicon particles.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ไว้เป็นตัวอย่างดังกล่าวเคลื่อนที่มอบทั้งหมดบนพื้นผิวของพวกเขา EDMed และการเคลื่อนเพิ่มขึ้น มีเนื้อหาซิลิคอน อย่างไรก็ตาม มันเป็นเรื่องยากที่แยกแยะผิว EDMed จากหลักฐานของ SEM ลังบนผิว EDMed ถูกสอบสวน ด้วย measurer ไมครอน quantitatively วัดจำนวนเฉลี่ยริดจ์จำหน่ายลังแรก และติดตามเคลื่อนไหวของโพรบถูกบันทึกไว้ รูปที่ 7 แสดงว่า สภาวะการ EDM ตัวอย่างเนื้อหาซิลิคอนสูงสุด (29Si) แสดงค่าเฉลี่ยสูงสุดริดจ์ EDM หมายเลขต่อไปนี้ รูปที่ 8 แสดงว่า เมื่อเนื้อหาซิลิคอนเพิ่มขึ้น ค่าความหนาแน่นริดจ์บนผิว EDMed อย่างเด่นชัดขึ้นกับสัดส่วนพื้นที่ของอนุภาคซิลิกอ eutectic และหลัก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างดังกล่าวมีทั้งหมดสันเขาบนพื้นผิว EDMed ของพวกเขาและสันเขาที่เพิ่มขึ้นด้วยเนื้อหาซิลิกอน แต่ก็เป็นเรื่องยากที่จะแยกแยะความแตกต่างของพื้นผิว EDMed จากหลักฐาน SEM หลุมอุกกาบาตบนพื้นผิว EDMed ถูกตรวจสอบครั้งแรกกับพื้นผิวที่ขรุขระ Measurer เพื่อวัดปริมาณจำนวนสันเฉลี่ยของหลุมอุกกาบาตจำหน่ายและแทร็คที่ย้ายของหัวที่ถูกบันทึกไว้ รูปที่ 7 แสดงให้เห็นว่าภายใต้เงื่อนไข EDM เฉพาะชิ้นงานที่มีเนื้อหาซิลิคอนสูงสุด (29Si) นำเสนอจำนวนสันเฉลี่ยสูงสุดต่อไปนี้ EDM รูปที่ 8 แสดงให้เห็นว่าเมื่อเนื้อหาซิลิกอนที่เพิ่มขึ้น, ค่าความหนาแน่นของสันเขาบนพื้นผิว EDMed เพิ่มขึ้นอย่างชัดเจนกับส่วนพื้นที่ยูเทคติกและหลักอนุภาคซิลิกอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างดังกล่าวมีร่องบนพื้นผิวของพวกเขา edmed และสันเขาเพิ่มขึ้นตามปริมาณซิลิคอน . อย่างไรก็ตาม มันเป็นเรื่องยากที่จะแยกแยะ edmed ซูร์¬หน้าจาก SEM หลักฐาน หลุมอุกกาบาตบน edmed พื้นผิวก่อนตรวจสอบกับความหยาบผิวขนาดเพื่อใช้วัดเฉลี่ย Ridge จำนวนจำหน่าย cratersตัวอย่างดังกล่าวมีร่องบนพื้นผิวของพวกเขา edmed และสันเขาเพิ่มขึ้นตามปริมาณซิลิคอน . อย่างไรก็ตาม มันยากที่จะแยกแยะความแตกต่างพื้นผิว edmed จาก SEM หลักฐาน หลุมอุกกาบาตบน edmed พื้นผิวก่อนตรวจสอบกับความหยาบผิวขนาดเพื่อใช้วัดเฉลี่ย Ridge จำนวนจำหน่าย cratersและย้ายติดตามการสอบสวนถูกบันทึกไว้ รูปที่ 7 แสดงให้เห็นว่าภายใต้เงื่อนไข EDM เฉพาะ ตัวอย่างกับเนื้อหาซิลิคอนสูงที่สุด ( 29si ) แสดงเบอร์ริดจ์เฉลี่ยสูงสุดตามด้วย . รูปที่ 8 แสดงให้เห็นว่าเมื่อปริมาณซิลิคอนที่เพิ่มขึ้น ความหนาแน่น ค่าสันบน edmed พื้นผิวเพิ่มขึ้นอย่างชัดเจนกับพื้นที่ส่วนของเทคติกและอนุภาคซิลิคอนปฐมภูมิ