η
=
()
N
N
5
n
n
n
1,
=
()
y
N
N
,
6
n
n
1,
2,
where
η
γ
and
η
n
are detection ef
fi
ciencies of the gamma rays and
neutrons, respectively and
y
is the ratio of neutron counts in
plastic scintillator and fused silica. In order to deduct the in
fl
uence
of incident gamma rays from neutron
fl
ux, an optimization stan-
dard
γ
N
1,
¼
γ
N
2,
is set for optimizing the thickness of fused silica
(
x
0
), at which point
y
¼
y
0
. In addition, it is expected that a larger
value of
y
0
is favorable.
In order to meet the optimization standard, GEANT4 is used to
Fig. 2.
Relationship between electron counts and (a) thickness of EJ200 and (b) spectrum of the emitted electrons (with 3-cm-thick EJ200).
Fig. 3.
(a) Relationship between proton counts and (a) thickness of polyethylene and (b) spectrum of the emitted protons (with 0.4-cm-thick polyethylene).
Fig. 4.
Relationship between thickness of fused silica and (a)
γ
N
1,
,
γ
N
2,
,
N
n
1,
, and
N
n
2,
and (b)
y
.
η
=
()
N
N
5
n
n
n
1
=
()
Y
N
N
,
6
n
n
1,
2,
ที่
η
แกมมา
และ
η
n
มีการตรวจสอบ EF
Fi
ciencies ของรังสีแกมมาและ
นิวตรอนตามลำดับและ
Y
เป็นอัตราส่วน ของการนับนิวตรอนใน
scintillator พลาสติกและซิลิกาหลอม เพื่อที่จะหักค่าใช้จ่ายใน
ฟลอริด้า
อิทธิพลต่อ
ของรังสีแกมมาจากเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นนิวตรอน
FL
UX, เพิ่มประสิทธิภาพลี้
ดาด
γ
N
1
¼
γ
N
2
มีการตั้งค่าสำหรับการเพิ่มประสิทธิภาพความหนาของผสมซิลิกา
(
x
0
) ที่จุด
Y
¼
Y 0 นอกจากนี้ยังเป็นที่คาดว่ามีขนาดใหญ่กว่าค่าของY 0 เป็นอย่างดี. เพื่อตอบสนองมาตรฐานการเพิ่มประสิทธิภาพ GEANT4 จะใช้ในรูป 2. ความสัมพันธ์ระหว่างการนับจำนวนอิเล็กตรอน (ก) ความหนาของ EJ200 และ (ข) สเปกตรัมของอิเล็กตรอน (กับ EJ200 3 ซม. หนา). รูป 3. (ก) ความสัมพันธ์ระหว่างการนับจำนวนโปรตอนและ (ก) ความหนาของเอทิลีนและ (ข) สเปกตรัมของโปรตอนที่ปล่อยออกมา (กับเอทิลิน 0.4 ซมหนา). รูป 4. ความสัมพันธ์ระหว่างความหนาของซิลิกาหลอมและ (ก) γ N 1 , γ N 2 , N n 1 และN n 2 และ (ข) Y
การแปล กรุณารอสักครู่..
