SEMs (scanning electron microscopes

SEMs (scanning electron microscopes) as well as optical microscopes are widely used for failure analyses.
With SEMs, the surface of the sample is observed by projecting electron beams on the sample and detecting
the secondary electron emitted from the sample, and the sample can be magnified from a few times to 100,000
times. As SEMs have a large focus depth and it is easy to obtain the observations of stereoscopic shapes, they
are used not only for failure analyses but also for acceptance inspections of materials or parts and for quality
control in the manufacturing process.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เรียงหน้าหรือไม่ (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน) เป็นกล้องจุลทรรศน์แสงใช้สำหรับวิเคราะห์ความล้มเหลวมีเรียงหน้าหรือไม่ พื้นผิวของตัวอย่างตรวจสอบ โดยประเมินรับลำแสงอิเล็กตรอนบนตัวอย่าง และตรวจสอบอิเล็กตรอนรองออกมาจากตัวอย่าง ตัวอย่างการขยายจากกี่ครั้งถึง 100000ครั้ง เรียงหน้าหรือไม่มีความลึกความกว้าง และง่ายต่อการสังเกตรูปร่าง stereoscopic ได้รับพวกเขาใช้ไม่เพียงแต่ การวิเคราะห์ความล้มเหลว แต่ยังยอมรับการตรวจสอบวัสดุหรือชิ้นส่วน และคุณภาพควบคุมในกระบวนการผลิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SEMs (กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด) เช่นเดียวกับกล้องจุลทรรศน์แสงที่ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลว.
ด้วย SEMs
พื้นผิวของตัวอย่างเป็นที่สังเกตโดยการฉายลำแสงอิเล็กตรอนในตัวอย่างและการตรวจสอบอิเล็กตรอนรองปล่อยออกมาจากตัวอย่างและตัวอย่างที่สามารถขยายจากไม่กี่ครั้งถึง 100,000
ครั้ง ในฐานะที่เป็น SEMs
มีความลึกโฟกัสขนาดใหญ่และมันเป็นเรื่องง่ายที่จะได้รับข้อสังเกตของรูปทรงสามมิติที่พวกเขาจะใช้ไม่เพียงแต่สำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลว
แต่ยังได้รับการยอมรับสำหรับการตรวจสอบวัตถุดิบหรือชิ้นส่วนที่มีคุณภาพและการควบคุมในกระบวนการผลิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

( กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ) เป็นกล้องจุลทรรศน์แสงที่ใช้กันอย่างแพร่หลายในการวิเคราะห์ความล้มเหลว .
กับแบบ พื้นผิวของตัวอย่าง สังเกตได้จากการฉายอิเล็กตรอนคานบนตัวอย่างและตรวจสอบ
รองอิเล็กตรอนออกมาจากตัวอย่างและตัวอย่างที่สามารถขยายจากสองสามครั้งเพื่อ 100000
ครั้งเป็นแบบมีความลึกโฟกัสขนาดใหญ่และมันเป็นเรื่องง่ายที่จะได้รับการสังเกตของรูปทรงสามมิติ พวกเขา
ใช้ไม่เพียง แต่ในการวิเคราะห์ความล้มเหลว แต่ยังสำหรับการยอมรับการตรวจสอบของชิ้นส่วนหรือวัสดุและการควบคุมคุณภาพ
ในกระบวนการผลิต