m was analyzed and each valuerecord

m was analyzed and each value
recorded was an average of 5 measurements. The microstructural
examination of the samples was done by using a
ZEISS optical microscope and JEOL JSM-6360LV scanning
electron microscope. An energy dispersive X-ray spectrometer
(EDX) system attached to the scanning electron microscope
was used to determine the chemical composition of the
phases present in the microstructure. The X-ray count rate
was estimated as 2× 103 counts per second (cps)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

m ถูกวิเคราะห์ และแต่ละค่าบันทึกเป็นค่าเฉลี่ยของการวัดที่ 5 การจุลภาคทำการตรวจสอบตัวอย่าง โดยใช้การกล้องจุลทรรศน์เลนส์ ZEISS และการสแกน JEOL JSM-6360LVกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน พลังงาน dispersive X-ray สเปกโตรมิเตอร์แบบระบบ (เรื่อง) ที่แนบกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนส่องกราดใช้การตรวจสอบองค์ประกอบทางเคมีของการระยะปัจจุบันในจุลภาค อัตราจำนวนเอ็กซเรย์ประมาณเป็น 2 × 103 จำนวนครั้งต่อวินาที (cps)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ม. ได้รับการวิเคราะห์และความคุ้มค่าในแต่ละ
บันทึกเป็นค่าเฉลี่ย 5 วัด จุลภาค
การตรวจสอบของกลุ่มตัวอย่างที่ได้กระทำโดยใช้
กล้องจุลทรรศน์ ZEISS และ JEOL JSM-6360LV สแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน พลังงานกระจาย X-ray สเปกโตรมิเตอร์
(EDX) ระบบที่แนบมากับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
ถูกใช้ในการตรวจสอบองค์ประกอบทางเคมีของ
ขั้นตอนในปัจจุบันจุลภาค อัตราการนับ X-ray
เป็นที่คาดกันเป็น 2 × 103 นับต่อวินาที (CPS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มแบบและแต่ละค่าบันทึก เฉลี่ย 5 วัด โครงสร้างจุลภาคการตรวจสอบทำได้โดยการใช้ตัวอย่างZeiss Optical Microscope จอล jsm-6360lv สแกนและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน สเปกโทรมิเตอร์รังสีเอกซ์พลังงานกระจายตัว( การวัด ) ระบบแนบกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนศึกษาองค์ประกอบทางเคมีของขั้นตอนปัจจุบันในจุลภาค ผลการนับคะแนนประมาณ 2 × 103 ครั้งต่อวินาที ( CPS )