The identification of the crystalli

The identification of the crystalline phases of the zeolite sam- ples was performed by x-ray diffractometry in a Rigaku (DMAXB) X-ray Powder Diffractometer by using a Bragg–Brentano geom- etry. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was carried out to determine the atomic concentrations (%) of the elements on the sur- face of the pristine and amine-impregnated samples, especially the atomic concentration % of nitrogen induced by the chemical mod- ification. Spectra were obtained at ultra high vacuum (10−12 bar) using a Physical Electronics spectrometer (model 5700). Thermo- gravimetric analyses (TGA) were carried out using as Shimadzu TGA 50 equipment, with a heating rate of 10 K/min, in a dynamic N2 atmosphere with approximately 5.0 mg sample. The temperature range of 340–1000 K was used for TGA analyses. FTIR spectra were obtained using a Bruker IFS88 spectrometer and specially designed cells which were permanently connected to a gas or vacuum line. Spectra were obtained at two temperatures (298 and 348 K) and two pressures (vacuum and 1 bar pure CO2 ).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รหัสของเฟสผลึกของการใช้ซีโอไลต์สาม-ples ที่ดำเนินการ โดย diffractometry เอ็กซ์เรย์ในการ Rigaku (DMAXB) เอกซเรย์ผง Diffractometer โดย etry-geom ที่ Bragg-Brentano เอกซเรย์ photoelectron ก (XPS) ที่ดำเนินการเพื่อกำหนดความเข้มข้นอะตอม (%) ขององค์ประกอบหน้าเซอตัวอย่างบริสุทธิ์ และ amine impregnated โดยเฉพาะอย่างยิ่ง%ความเข้มข้นอะตอมของไนโตรเจนที่เกิดจากสารเคมี mod ification แรมสเป็คตราได้รับที่รุนแรงสูงสูญญากาศ (10−12 บาร์) ใช้สเปกโตรมิเตอร์อิเล็กทรอนิกส์ทางกายภาพ (รุ่น 5700) เทอร์โม - ต้องวิเคราะห์ (TGA) ได้ดำเนินการใช้เป็น Shimadzu TGA 50 อุปกรณ์ อัตราความร้อน 10 K/min ในบรรยากาศ N2 ไดนามิกกับประมาณ 5.0 มิลลิกรัมตัวอย่าง ช่วงอุณหภูมิ 340 – 1000 K ถูกใช้สำหรับวิเคราะห์ TGA FTIR แรมสเป็คตราได้รับโดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ Bruker IFS88 และเซลล์ที่ถูกเชื่อมต่ออย่างถาวรบรรทัดก๊าซหรือดูด ออก แรมสเป็คตราได้รับที่สองอุณหภูมิ (298 และ 348 K) และแรงดันทั้งสอง (ดูดและ 1 บาร์ CO2 บริสุทธิ์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บัตรประจำตัวของผลึกขั้นตอนของ Ples sam- ซีโอไลท์ได้ดำเนินการโดยมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ใน Rigaku (DMAXB) X-ray diffractometer ผงโดยใช้แบร็-Brentano geom- etry เอ็กซ์เรย์สเปคโทรโฟโตอิเล็กตรอน (XPS) ได้ดำเนินการเพื่อตรวจสอบความเข้มข้นของอะตอม (%) ขององค์ประกอบบนพื้นผิวของตัวอย่างที่เก่าแก่และเอชุบโดยเฉพาะอย่างยิ่งความเข้มข้น% อะตอมไนโตรเจนที่เกิดจากสารเคมี mod- ification . Spectra ที่ได้รับในสูญญากาศสูงเป็นพิเศษ (10-12 บาร์) โดยใช้สเปกโตรมิเตอร์อิเล็กทรอนิกส์ทางกายภาพ (รุ่น 5700) เทอร์โมวิเคราะห์ gravimetric (TGA) ได้รับการดำเนินการโดยใช้เป็น Shimadzu TGA 50 อุปกรณ์ที่มีอัตราความร้อน 10 K / นาทีในบรรยากาศ N2 แบบไดนามิกที่มีประมาณ 5.0 มิลลิกรัมตัวอย่าง ช่วงอุณหภูมิ 340-1000 K ที่ใช้สำหรับการวิเคราะห์ TGA FTIR สเปกตรัมที่ได้รับโดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ IFS88 Bruker และเซลล์ออกแบบมาเป็นพิเศษที่มีการเชื่อมต่ออย่างถาวรก๊าซหรือสายสูญญากาศ Spectra ได้รับอุณหภูมิที่สอง (298 และ 348 K) และสองแรงกดดัน (สูญญากาศและ 1 บาร์ CO2 บริสุทธิ์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กำหนดระยะของผลึกซีโอไลต์แซม - ples โดยใช้เอกซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( ใน rigaku dmaxb ) ผงเอ็กซ์เรย์โดยใช้แบร็ก–โน กึม - etry . เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ) มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาความเข้มข้นของอะตอม ( % ) ขององค์ประกอบในซูร์ - ใบหน้าของบริสุทธิ์และเอมีนชุบตัวอย่างโดยเฉพาะความเข้มข้นของไนโตรเจนอะตอมที่เกิดจากสารเคมี มด - ification . สเปกตรัมได้อัลตร้าสูญญากาศสูง ( 10 − 12 บาร์ ) ใช้กล้องอิเล็กทรอนิกส์ทางกายภาพ ( รุ่น 5700 ) เทอร์โม - วิเคราะห์ด้วย ( TGA ) พบว่าใช้เป็น Shimadzu TGA 50 อุปกรณ์ที่มีอัตราความร้อน 10 K / นาที ในบรรยากาศไนโตรเจนแบบไดนามิกที่มีประมาณ 5.0 มิลลิกรัม ตัวอย่างช่วงอุณหภูมิ 340 – 1000 K ถูกใช้โดย TGA FTIR spectra ได้รับใช้สเปก ifs88 บรุคเกอร์และออกแบบเป็นพิเศษเซลล์ซึ่งอย่างถาวรเชื่อมต่อกับสายก๊าซหรือสูญญากาศ ช่วงที่ 2 ได้รับอุณหภูมิและ 348 K ) และสองแรงกดดัน ( สุญญากาศและบาร์ 1 คาร์บอนไดออกไซด์บริสุทธิ์ )