3.2 New Techniques for Numerical De

3.2 New Techniques for Numerical Device Testing
The core premise is that numerical devices have factory validated
firmware versions that, once confirmed as being installed,
will deliver the specified applications and performance.
As a consequence, the testing and maintenance requirement
can be focused upon the validation of the device stabilization,
operation and reset for each function, rather than Mirroring
of a granular approach more adapted to legacy analogue
equipments.
The new operative testing and maintenance system recommends
testing numerical devices with the SOR (Stabilization-
Operation-Reset) protocol. This protocol is based on the
premise that every protection function could be tested with
three basic points. These points are:
-S (Stability) -stability point of the protection function
(protection function must not start);
-0 (Operative) - point where protection function muststart;
-R (Reset) - point where protection function must reset
(protection function must drop-oft).
These points are calculated in the XRIO module out of the
setting paranmeters and tolerance values which can be found in
the user manual of the protection device:
- TolQrel / TolQabs - relative /absolute quantity tolerance;
- TolTrel / TolTabs -relative /absolute time tolerance;
- RR -reset ratio;
- To - minimum operating time;
- TRo -minimum reset time;
- Q - quantity; T - trip time; TR - reset time.
The XRIO module calculates testing values from the quantity
and tolerance values.
If the measured quantity is higher than the nominal quantity,
the S, 0 and R values are calculated as it is shown in Figure
2a. On the other hand, if the measured quantity is lower than

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.2 เทคนิคใหม่สำหรับการทดสอบอุปกรณ์ตัวเลข
สมมติฐานหลักคือว่าอุปกรณ์ที่เป็นตัวเลขมีโรงงานการตรวจสอบ
รุ่นเฟิร์มที่ได้รับการยืนยันครั้งเดียวกับการติดตั้ง
จะให้การใช้งานและประสิทธิภาพการทำงานที่ระบุ.
เป็นผลการทดสอบและความต้องการการบำรุงรักษาที่
สามารถมุ่งไปที่การตรวจสอบ ของการรักษาเสถียรภาพอุปกรณ์
การดำเนินงานและการตั้งค่าสำหรับแต่ละฟังก์ชั่นมากกว่าการสะท้อน
ของวิธีการที่ละเอียดมากขึ้นในการปรับตัวแบบอะนาล็อกมรดก
อุปกรณ์.
การทดสอบการทำงานใหม่และการบำรุงรักษาระบบแนะนำ
การทดสอบอุปกรณ์ที่มีตัวเลข SOR (Stabilization-
การดำเนินงานรีเซ็ต) โปรโตคอล โปรโตคอลนี้จะขึ้นอยู่กับ
สมมติฐานที่ว่าฟังก์ชั่นการป้องกันทุกอาจจะมีการทดสอบกับ
สามจุดพื้นฐาน จุดเหล่านี้คือ:
-S (เสถียร) จุด -stability ของฟังก์ชั่นการป้องกัน
(ฟังก์ชั่นการป้องกันไม่ต้องเริ่มต้น);
-0 (หัตถการ) - จุดที่ฟังก์ชั่นการป้องกัน muststart;
-R (รีเซ็ต) - จุดที่ฟังก์ชั่นการป้องกันต้องตั้งค่า
(การป้องกัน ฟังก์ชั่นจะต้องหล่นบ่อย).
จุดเหล่านี้จะถูกคำนวณในโมดูล Xrio จาก
paranmeters การตั้งค่าและค่าความอดทนซึ่งสามารถพบได้ใน
คู่มือการใช้อุปกรณ์ป้องกัน:
- TolQrel / TolQabs - ญาติ / อดทนปริมาณที่แน่นอน;
- TolTrel / TolTabs -relative / อดทนเวลาที่แน่นอน;
- RR อัตราส่วนรีเซ็ต;
- เพื่อ - เวลาการทำงานขั้นต่ำ
- ขั้นต่ำ TRO ตั้งเวลา;
- Q - ปริมาณ T - เวลาการเดินทาง; TR - ตั้งเวลา.
โมดูล Xrio คำนวณค่าการทดสอบจากปริมาณ
และค่าความอดทน.
ถ้าวัดปริมาณสูงกว่าปริมาณเล็กน้อย,
S, 0 และค่า R คำนวณตามที่ปรากฏในรูปที่
2a ในทางตรงกันข้ามถ้าวัดปริมาณต่ำกว่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.2 เทคนิคใหม่สำหรับตัวเลขการทดสอบอุปกรณ์
หลักสถานที่ที่อุปกรณ์เชิงตัวเลขมีโรงงานตรวจสอบ
firmware รุ่นที่ เมื่อยืนยันการติดตั้ง
จะส่งที่ระบุการใช้งานและประสิทธิภาพ
เป็นผลการทดสอบและการบำรุงรักษาความต้องการ
สามารถเน้นการตรวจสอบของอุปกรณ์ stabilization
การตั้งค่าสำหรับแต่ละฟังก์ชันแทนที่จะสะท้อน
ของเม็ดวิธีเพิ่มเติมดัดแปลงมรดกอุปกรณ์อนาล็อก
.
ระบบการทดสอบและการบำรุงรักษางานใหม่แนะนำ
อุปกรณ์ทดสอบเชิงตัวเลขกับซอ ( เสถียรภาพ -
การตั้งค่า ) โปรโตคอล โปรโตคอลนี้จะขึ้นอยู่กับหลักฐานว่าทุกฟังก์ชันป้องกัน

อาจจะทดสอบกับพื้นฐานสามจุด
จุดเหล่านี้ :- S ( ความมั่นคง ) - ชี้เสถียรภาพของฟังก์ชันป้องกัน
( ฟังก์ชันการป้องกันต้องไม่เริ่ม ) ;
- 0 ( หัตถการ ) - จุดที่ฟังก์ชันป้องกัน muststart ;
- R ( ใหม่ ) - จุดที่ฟังก์ชันป้องกันต้องตั้งค่า
( ฟังก์ชันป้องกันต้องวางบ่อยๆ )
จุดเหล่านี้จะถูกคำนวณใน xrio โมดูลของการตั้งค่าและค่าความอดทน paranmeters

ซึ่งสามารถพบได้ในคู่มือของอุปกรณ์ป้องกัน :
- tolqrel / tolqabs - ญาติยอมรับปริมาณสัมบูรณ์ ;
- toltrel / toltabs - ญาติ / แน่นอนความอดทนเวลา ;
- RR - อัตราส่วนใหม่ ;
- - อย่างน้อยงาน ;
- ซอ - เวลาตั้งค่าต่ำสุด ;
- Q - ปริมาณ ระยะเวลาการเดินทาง T - ; TR - เวลาตั้งค่า โมดูลการทดสอบค่า
xrio คำนวณจากปริมาณ

และค่าความอดทนถ้าวัดที่ปริมาณสูงกว่าปริมาณเล็กน้อย
S , 0 และค่า r ค่าตามที่แสดงไว้ในรูป
2A ในทางกลับกัน ถ้าปริมาณการวัดต่ำกว่า