High resolution scanning electron m

High resolution scanning electron microscopy (SEM) (LEO 1530) was used to study the surface morphology of the used catalyst. The system used was a Gemini Field Emission Gun SEM, FEGSEM LEO 1530, manufactured by Zeiss, Oberkochen, Germany. The SEM used an accelerating voltage of 3 KV, at a working distance of 3e8 mm from the electron gun and an 80 mm X-Max SDD detector.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความละเอียดสูงที่แกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) (ลีโอ 1530) ถูกใช้เพื่อศึกษาสัณฐานวิทยาผิวของ catalyst ที่ใช้ ระบบที่ใช้ได้กับเมถุนมลพิษฟิลด์ปืน SEM, FEGSEM ลีโอ 1530 ผลิต โดย Zeiss, Oberkochen เยอรมนี SEM ที่ใช้แรงดันไฟฟ้าที่เป็นปัจจุบัน 3 KV ที่ทำงานทางไกล 3e8 มม.จากปืนอิเล็กตรอนและ 80 มม. X สูง SDD จับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูงสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) (LEO 1530) ถูกใช้ในการศึกษาลักษณะพื้นผิวของตัวเร่งปฏิกิริยาที่ใช้ ระบบที่ใช้เป็นสนามการปล่อยราศีเมถุนปืน SEM, FEGSEM LEO 1530 ผลิตโดย Zeiss, Oberkochen เยอรมนี SEM ใช้แรงดันเร่ง 3 KV, ในระยะการทำงานของมม 3E8 จากปืนอิเล็กตรอนและ 80 มม X-Max เครื่องตรวจจับ SDD

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ( สิงห์ 1 ) ถูกใช้เพื่อศึกษาสัณฐานวิทยาของพื้นผิวที่ใช้ตัวเร่งปฏิกิริยา ระบบที่ใช้เป็นสนามการราศีเมถุนปืน SEM , fegsem ลีโอ 1 ผลิตโดย Zeiss oberkochen , เยอรมนี โดย SEM ใช้เร่งแรงดัน 3 กิโลที่ทำงานระยะทาง 3e8 มม. จากปืนยิงอิเล็กตรอนและ 80 มม. x-max SDD เครื่องตรวจจับ