the XRD results were examined. Figu

the XRD results were examined. Figures 4
and 5 show, from some samples of RHA prepared at different conditions and nanosilica present, a broad peak at 2θ = 22° associated with amorphous silica. The lack of
sharp peaks indicates the absorbance of any ordered
crystalline structure, confirming the results from the

Powder X-ray diffractogram of the silica nanoparticles
is displayed in Fig. 3. It shows a broad and high intensity
peak at 2θ = 22° which indicate the amorphous nature of
the silica [18]. Absence of sharp peaks confirm the absence of ordered crystalline structure in the prepared RH-Silica nanoparticles.

The powder X-ray diffraction pattern of nanosilica is shown in Figure 1. A strong broad peak centered
at 22º (2θ) confirms the amorphous nature of silica which is supposed to be the characteristic of amorphous
SiO2. Due to thermochemical process, the crystalline particles transforms into amorphous silica which is
indicated by broad peak.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ผล XRD ถูกตรวจสอบ ตัวเลข 4และ แสดง 5 จากบางตัวอย่างของ RHA เตรียมเงื่อนไขต่าง ๆ และสิ่งสูงสุดที่ 2θ ปัจจุบัน nanosilica = 22 องศาที่เกี่ยวข้องกับซิลิก้าไป การขาดยอดเขาที่มีความคมบ่งชี้ absorbance ของสั่งโครงสร้างผลึก การยืนยันผลลัพธ์จากการผง diffractogram เอกซเรย์ของเก็บกักซิลิก้าตั้งอยู่ใน Fig. 3 แสดงความกว้าง และสูงช่วงที่ 2θ = 22° ซึ่งบ่งชี้ธรรมชาติของไปนส่วน [18] ขาดยอดคมยืนยันของโครงสร้างผลึกสั่งเก็บกัก RH-ซิลิกาเตรียมไว้รูปแบบการเลี้ยวเบนเอกซเรย์ผงของ nanosilica จะแสดงในรูปที่ 1 สูงสุดกว้างแข็งแรงแปลกที่ 22º (2θ) ยืนยันไปธรรมชาติของซิลิก้าซึ่งควรจะเป็นลักษณะของการไปSiO2 เนื่องจากขั้นตอนของ thermochemical อนุภาคผลึกเปลี่ยนเป็นซิลิก้าไปซึ่งเป็นระบุเป็นช่วงกว้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ผล XRD มีการตรวจสอบ รูปที่ 4
และ 5 แสดงจากตัวอย่างของบาง RHA เตรียมในส่วนของเงื่อนไขที่แตกต่างกันและ nanosilica ปัจจุบันสูงสุดในวงกว้างที่2θ = 22 °เกี่ยวข้องกับซิลิกาอสัณฐาน การขาดความ
คมชัดบ่งชี้ว่ายอดการดูดกลืนแสงใด ๆ ที่สั่งซื้อ
โครงสร้างผลึกยืนยันผลที่ได้จากผง diffractogram เอ็กซ์เรย์ของอนุภาคนาโนซิลิกาจะปรากฏในรูป 3. มันแสดงให้เห็นความรุนแรงในวงกว้างและสูงสูงสุดที่2θ = 22 °ที่แสดงลักษณะสัณฐานของซิลิกา [18] กรณีที่ไม่มียอดคมยืนยันตัวตนของโครงสร้างผลึกสั่งเตรียมอนุภาคนาโน RH-ซิลิกา. ผงรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของ nanosilica จะแสดงในรูปที่ 1 สูงสุดในวงกว้างที่แข็งแกร่งเป็นศูนย์กลางที่22º (2θ) ยืนยันลักษณะสัณฐานของซิลิกา ซึ่งควรจะเป็นลักษณะของอสัณฐานSiO2 เนื่องจากกระบวนการความร้อนอนุภาคผลึกเปลี่ยนเป็นซิลิกาอสัณฐานซึ่งถูกระบุโดยจุดสูงสุดในวงกว้าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตรวจผลการตรวจร่างกาย ตัวเลข 4
5 รายการ จากบางตัวอย่างของขี้เถ้าแกลบที่เตรียมไว้ในเงื่อนไขที่แตกต่างกันและนาโนซิลิกาปัจจุบันยอดคร่าว ๆ 2 θ = 22 องศาที่เกี่ยวข้องกับซิลิกาอสัณฐาน . ขาด
ยอดคมบ่งบอกถึงค่าใด ๆที่สั่ง
โครงสร้างของผลึก ยืนยันผลจาก

แป้งเอ็กซเรย์ทางของอนุภาคนาโนซิลิกา
แสดงในรูปที่ 3มันแสดงให้เห็นในวงกว้างและความเข้มสูงสุด
สูง 2 θ = 22 °ซึ่งบอกลักษณะสัณฐานของ
) [ 18 ] ไม่มียอดคม ยืนยันไม่มีคำสั่งโครงสร้างของผลึกในอนุภาคนาโนซิลิกาที่เตรียมใช้

แป้งลวดลายการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของนาโนซิลิกาที่แสดงในรูปที่ 1 แข็งแรงกว้างสูงสุด
อยู่กึ่งกลางที่ 22 º ( 2 θ ) ยืนยันลักษณะสัณฐานของซิลิกา ซึ่งน่าจะเป็นลักษณะของสัณฐาน
SiO2 . เนื่องจากกระบวนการเคมีความร้อน , อนุภาคผลึกเปลี่ยนเป็นซิลิกาอสัณฐานที่พบ โดยยอดคร่าว ๆ

.