2.6. Scanning electronic microscopy

2.6. Scanning electronic microscopy (SEM)
The microcomposites were analyzed using a scanning electron microscope (Jeol JSM 5910 LV, Tokyo, Japan) at 25 Pa of vacuum and 15 kV, in order to observe the dispersion of silver–zinc particles on the polymer surface in samples congealed with liquid nitrogen and coated with gold

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.6 การสแกนอิเล็กทรอนิกส์ microscopy (SEM)Microcomposites ได้วิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (Jeol JSM 5910 LV โตเกียว ญี่ปุ่น) ที่ 25 Pa ของเครื่องดูดฝุ่น และ 15 kV เพื่อสังเกตการกระจายตัวของอนุภาคเงิน – สังกะสีบนพื้นผิวของพอลิเมอร์ในตัวอย่าง congealed กับไนโตรเจนเหลว และเคลือบ ด้วยทอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กทรอนิกส์ (SEM)
microcomposites ถูกวิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Jeol JSM 5910 LV, กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ที่ 25 ป่าสูญญากาศและ 15 กิโลโวลต์เพื่อที่จะสังเกตการกระจายตัวของอนุภาคเงินสังกะสีบนพื้นผิวโพลีเมอใน ตัวอย่างข้นด้วยไนโตรเจนเหลวและเคลือบด้วยทอง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.6 การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กทรอนิกส์ ( SEM )
microcomposites วิเคราะห์โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( Jeol JSM 5910 LV , โตเกียว , ญี่ปุ่น ) ที่ 25 PA ของเครื่องดูดฝุ่นและ 15 กิโลเพื่อสังเกตการกระจายตัวของอนุภาคเงินและสังกะสีบนผิวโพลิเมอร์ ในตัวอย่าง congealed ด้วยไนโตรเจนเหลว และเคลือบด้วยทอง