Fig. 2 demonstrates that the surfac

Fig. 2 demonstrates that the surface of the sample contains,
in addition to chromium oxides, iron (ca. 10 at.%),
nickel (ca. 3 at.%) and silicon inclusions (up to 2 at.%). The
analysis shows that the above elements do not participate in
the composition of the oxide film and are probably present in
the crevices where part of the underlying steel surface is exposed
to XPS analysis. Since XPS is an integral method and
collects information from a large surface area, the spectrum
contains signals of both, the oxide layer and the crevices.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 2 แสดงให้เห็นว่า พื้นผิวของตัวอย่างประกอบด้วยนอกจากโครเมียมออกไซด์ เหล็ก (ca. 10 at.%),นิกเกิล (ca. 3 at.%) และซิลิกอนที่รวม (2 at.%) ที่แสดงการวิเคราะห์องค์ประกอบข้างต้นไม่ได้มีส่วนร่วมในส่วนประกอบของฟิล์มออกไซด์และจะคงอยู่ในcrevices ที่สัมผัสส่วนหนึ่งของพื้นผิวเหล็กต้นแบบการวิเคราะห์ XPS เนื่องจาก XPS เป็นวิธีสำคัญ และรวบรวมข้อมูลจากพื้นที่ผิวขนาดใหญ่ประกอบด้วยสัญญาณทั้ง ชั้นออกไซด์และ crevices

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 2 แสดงให้เห็นว่าพื้นผิวของตัวอย่างมี,
นอกเหนือไปจากโครเมียมออกไซด์เหล็ก (แคลิฟอร์เนีย 10.%)
นิกเกิล (แคลิฟอร์เนียได้ 3.%) และการรวมซิลิกอน (ไม่เกิน 2.%) การวิเคราะห์แสดงให้เห็นว่าองค์ประกอบดังกล่าวข้างต้นไม่ได้มีส่วนร่วมในองค์ประกอบของฟิล์มออกไซด์และอาจจะอยู่ในรอยแยกที่เป็นส่วนหนึ่งของพื้นผิวเหล็กพื้นฐานสัมผัสการวิเคราะห์XPS ตั้งแต่ XPS เป็นวิธีหนึ่งและเก็บรวบรวมข้อมูลจากพื้นที่ผิวขนาดใหญ่, สเปกตรัมมีสัญญาณของทั้งสองชั้นออกไซด์และรอยแยก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 แสดงให้เห็นถึงพื้นผิวของตัวอย่างมี
นอกจากโครเมียมออกไซด์เหล็ก ( ประมาณที่ 10 % ) ,
นิกเกิล ( ประมาณ 3 % ) และซิลิคอนเจือปน ( ถึง 2 % )
การวิเคราะห์แสดงให้เห็นว่าองค์ประกอบข้างต้นไม่ได้มีส่วนร่วมใน
องค์ประกอบของฟิล์มออกไซด์ และอาจอยู่ในส่วนหนึ่งของรอยแยกที่

) เหล็กผิวสัมผัสเคราะห์ XPS .เนื่องจาก XPS เป็นวิธีการหนึ่งและ
รวบรวมข้อมูลจากพื้นที่ผิวขนาดใหญ่ สเปกตรัม
มีสัญญาณของทั้งชั้นออกไซด์และ crevices .