Wide-angle X-ray scatteringWide-ang

Wide-angle X-ray scattering
Wide-angle X-ray scattering (WAXS) patterns were recorded using Cu Ka radiation (k = 1.54 nm) generated by an X-ray diffractometer (Xpert, Philips) operated at 40 kV and 30 mA. The scanning rate was 1 min-1 with a step size of 0.1.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มุมกว้าง X-ray scatteringมีบันทึกใช้ Cu Ka รังสี X-ray scattering (WAXS) รูปแบบมุมกว้าง (k = 1.54 nm) สร้างขึ้น โดยการ diffractometer X-ray (Xpert, Philips) ดำเนินการใน 40 kV และ 30 mA อัตราการสแกนคือ 1 นาที-1 ขั้นตอนขนาด 0.1

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มุมกว้าง X-ray กระเจิง
มุมกว้าง X-ray กระเจิง (WAXS) รูปแบบที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้ลูกบาศ์กการังสี (k = 1.54 นาโนเมตร) ที่สร้างโดย X-ray diffractometer (Xpert ฟิลิปส์) ดำเนินการใน 40 kV และ 30 มิลลิแอมป์ อัตราการสแกนเป็น 1 นาที-1 ที่มีขนาด 0.1 ขั้นตอนของ ?.