The mass attenuation coefficient (l

The mass attenuation coefficient (l/q), effective atomic number (Zeff), effective electron density (Ne,eff)
and half-value layer (HVL) of xRmOn:(1 _ x)SiO2 glass system (where RmOn are Bi2O3, PbO and BaO, with
0.3 6 x 6 0.7 is fraction by weight) have been calculated by theoretical approach using WinXCom program
in the energy region from 1 keV to 100 GeV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีความยาวโดยรวมสัมประสิทธิ์ (l/q), เลขอะตอมมีประสิทธิภาพ (Zeff), ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ (Ne, eff)ชั้นครึ่งค่า (HVL) ของ xRmOn และ:(1 _ x) ระบบกระจก SiO2 (ที่ RmOn มี Bi2O3, PbO และ เบา6 0.3 x 6 0.7 เป็นเศษส่วน โดยน้ำหนัก) มีการคำนวณ โดยใช้โปรแกรม WinXCom วิธีการทฤษฎีในภาคพลังงาน 1 keV 100 GeV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัมประสิทธิ์ (ลิตร / q) เลขอะตอมที่มีประสิทธิภาพ (Zeff) ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ (Ne, เอฟเอฟ)
และชั้นครึ่งมูลค่า (HVL) ของ xRmOn (1 _ x) ระบบแก้ว SiO2 (ที่ RMON เป็น Bi2O3, PbO และเบ้ากับ
0.3 6 x 6 0.7 เป็นส่วนโดยน้ำหนัก) ได้รับการคำนวณโดยวิธีการประเมินโดย WinXCom โปรแกรม
ในภูมิภาคพลังงานจาก 1 keV ถึง 100 GeV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มวลค่าสัมประสิทธิ์การลดทอน ( L / q ) ที่มีเลขอะตอม ( เซฟฟ์ ) ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ ( NE , เอฟ )
และชั้นครึ่ง ( ค่า hvl ) ของ xrmon ( 1 _ X ) ระบบแก้ว SiO2 ( ที่ rmon เป็น bi2o3 สามเปา , และ ,
6 x 6 0.7 เป็น 0.3 เศษส่วนโดย น้ำหนัก ) ได้ถูกคำนวณโดยวิธีทางทฤษฎีการใช้โปรแกรม winxcom
ในภาคพลังงานจาก 1 ถึง 100 gev เคฟ .