The crystalline structure of the pr

The crystalline structure of the prepared samples was assessed from X-ray diffraction patterns (XRD, Panalytical, X′Pert Prowith an X-Celerator detector) collected at intervals of 0.02° (2θ) and an accumulation time of 4000 s. Crystallite size was obtained from the (200) XRD reflection (2θ at ∼25.7°) using the Scherrer formula. Crystal structure refinement was carried out using the Rietveld method with the TOPAS software (TOPAS version 4.2, Bruker AXS, 2009). Starting parameters were those described for TbPO4.(16) Refined parameters were background coefficients, zero error, scale factor, surface roughness, unit cell parameters, atom positions, isotropic temperature factors of Gd and P, and Lorentzian and Gaussian components of the crystallite size and strains. A TCHZ (Thompson-Cox-Hasting) function was used to describe the peak shape.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างผลึกของตัวอย่างเตรียมไว้ถูกประเมินจากรูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD, Panalytical, X′Pert Prowith การตรวจ X-Celerator) เก็บรวบรวมในช่วง 0.02° (2θ) และมีเวลาสะสม 4000 ขนาด Crystallite s ได้ถูกรับจากสะท้อน XRD (200) (2θ ที่ ∼25.7 องศา) โดยใช้สูตร Scherrer รีไฟน์เมนท์โครงสร้างผลึกได้ดำเนินด้วยวิธี Rietveld TOPAS ซอฟต์แวร์ (TOPAS เวอร์ชัน 4.2, Bruker AXS, 2009) พารามิเตอร์เริ่มต้นมีผู้อธิบายไว้ใน TbPO4(16) กลั่นพารามิเตอร์มีค่าสัมประสิทธิ์พื้นหลัง ศูนย์ข้อผิดพลาด ตัวคูณสเกล ความหยาบผิว พารามิเตอร์เซลล์หน่วย ตำแหน่งอะตอม ปัจจัยอุณหภูมิ isotropic Gd และ P และ Lorentzian และ Gaussian ส่วน crystallite ขนาดและสายพันธุ์ ฟังก์ชัน TCHZ (ทอมป์สันค็อกซ์-Hasting) ถูกใช้เพื่ออธิบายรูปร่างสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกของตัวอย่างที่เตรียมได้รับการประเมินจากรูปแบบ X-ray diffraction (XRD, Panalytical, X'pert ก์ตรวจจับ X-Celerator) ที่เก็บรวบรวมในช่วงเวลา 0.02 ° (2θ) และเวลาการสะสมของ 4000 S ขนาดผลึกที่ได้รับจาก (200) สะท้อน XRD (2θที่ ~25.7 °) โดยใช้สูตร Scherrer การปรับแต่งโครงสร้างผลึกได้ดำเนินการโดยใช้วิธี Rietveld กับซอฟต์แวร์ TOPAS (TOPAS รุ่น 4.2 Bruker AXS 2009) พารามิเตอร์เริ่มต้นเหล่านั้นอธิบาย TbPO4. (16) พารามิเตอร์บริสุทธิ์มีค่าสัมประสิทธิ์พื้นหลังศูนย์ข้อผิดพลาดปัจจัยระดับพื้นผิวที่ขรุขระพารามิเตอร์หน่วยเซลล์ตำแหน่งอะตอมปัจจัยอุณหภูมิ isotropic ของ Gd และ P และ Lorentzian และส่วนประกอบ Gaussian ของขนาดผลึก และสายพันธุ์ TCHZ (ธ อมป์สัน-Cox-Hasting) ฟังก์ชั่นที่ใช้ในการอธิบายถึงรูปร่างสูงสุด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาโครงสร้างที่เตรียมไว้ ตัวอย่างที่ได้รับจากรูปแบบโดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD , panalytical X PERT prowith นั้นเป็น x-celerator ตรวจจับ ) เก็บในช่วง 0.02 องศา ( 2 θ ) และการสะสมของ 4000 S . ขนาดผลึกที่ได้รับจาก XRD สะท้อน ( 200 ) ( 2 θที่∼ 25.7 องศา ) โดยใช้ เชเรอร์สูตรโครงสร้างผลึกละเอียดถูกนำออกมาใช้ ไรเ เวลตามวิธีซอฟต์แวร์ ( โทแพสโทปาสรุ่น 4.2 , BRUKER ขวาน , 2009 ) เริ่มต้นพารามิเตอร์เหล่านั้น อธิบาย tbpo4 ( 16 ) ค่าการกลั่นพื้นฐาน 2 , ข้อผิดพลาด , ปัจจัยระดับความหยาบของพื้นผิว หน่วยเซลล์พารามิเตอร์ตำแหน่งอะตอม อุณหภูมิและองค์ประกอบของตัว GD Plorentzian ) และส่วนประกอบของผลึกและขนาดและสายพันธุ์ เป็น tchz ( ทอมป์สัน Cox เฮสติ้ง ) ฟังก์ชันที่ใช้เพื่ออธิบายถึงยอดรูปร่าง