Currently, chemical mechanical polishing (CMP) is still one method of the most effective technology to achieve global planarization [5], [6] and [7]. However, owing to the super-high hardness and super-strong chemical innerness, CMP removal of sapphire and SiC wafer is very difficult [8], [9], [10], [11], [12], [13], [14], [15] and [16]. Moreover, the relative research on CMP characteristics of sapphire and SiC wafer is very few, especially CMP mechanism
ในปัจจุบัน เคมีขัดกล (CMP) ยังคงเป็นวิธีการหนึ่งของเทคโนโลยีมีประสิทธิภาพสูงสุดเพื่อให้บรรลุ planarization ทั่วโลก [5], [6] และ [7] อย่างไรก็ตาม เนื่องจากความแข็งสูงและแข็งแรงทางเคมี innerness, CMP ลบแซฟไฟร์และเวเฟอร์ SiC ยากมาก [8], [9], [10], [11], [12], [13], [14], [15] และ [16] นอกจากนี้ การวิจัยญาติ CMP ลักษณะของแซฟไฟร์และเวเฟอร์ SiC จะน้อยมาก โดยเฉพาะอย่างยิ่งกลไกการ CMP
การแปล กรุณารอสักครู่..
