The X-ray powder diffraction analys

The X-ray powder diffraction analysis was used to confirm the tiny physical phase of the product. Grown crystals were ground using iably an agate mortar and pestle in order to determine the crystal with phases by XRD. The XRD analysis (SAIFERT, 2002 DLx model) was ition performed using a tube voltage and current of 40 kV and 30 mA, of respectively. The X-ray powder diffraction patterns of pure KDP RDP crystal and doped KDP (5 M% K2co3) crystal are identical.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนผงเอ็กซ์เรย์ที่ใช้ยืนยันระยะเล็ก ๆ ทางกายภาพของผลิตภัณฑ์ ดินที่ใช้ iably การโมราโกร่งเพื่อกำหนดคริสตัลกับระยะด้วย XRD ผลึกเติบโตได้ การวิเคราะห์ XRD (SAIFERT, 2002 รุ่น DLx) ถูก ition ใช้หลอดแรงดันและกระแส 40 kV และ 30 mA ของตามลำดับ รูปแบบการเลี้ยวเบนผงเอกซเรย์คริสตัล KDP RDP บริสุทธิ์และคริสตัล (5 M % K2co3) KDP doped เหมือนกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนผงเอ็กซ์เรย์ถูกใช้ในการยืนยันขั้นตอนเล็ก ๆ ทางกายภาพของผลิตภัณฑ์ ผลึกที่ปลูกมาบดใช้ iably ครกและสากอาเกตเพื่อตรวจสอบคริสตัลที่มีขั้นตอนโดย XRD การวิเคราะห์ XRD (SAIFERT 2002 DLX รูปแบบ) เป็น ition ดำเนินการโดยใช้แรงดันไฟฟ้าหลอดและปัจจุบันของ 40 กิโลโวลต์และ 30 มิลลิแอมป์ของตามลำดับ X-ray รูปแบบการเลี้ยวเบนของผงผลึกบริสุทธิ์ KDP RDP และเจือ KDP (5% M K2CO3) คริสตัลเหมือนกัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รังสีเอกซ์การเลี้ยวเบน ผงการวิเคราะห์ใช้เพื่อยืนยันระยะร่างกายเล็ก ๆของผลิตภัณฑ์ การปลูกผลึกถูกพื้นดินใช้ iably อาเกตครกและสากในการตรวจสอบคริสตัลขั้นตอนโดย XRD . การวิเคราะห์ XRD ( saifert 2002 DLX Model ) คือ ition โดยใช้แรงดันไฟฟ้าหลอด และปัจจุบัน 40 กิโล 30 MA , ตามลำดับรูปแบบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ผงบริสุทธิ์ kdp RDP และคริสตัลที่มี kdp ( 5 % K2CO3 ) คริสตัลเหมือนกัน