2.3. Scanning electron microscopy (

2.3. Scanning electron microscopy (SEM)
The brown rice was broken manually. After coating with Pt ions
in an argon atmosphere for 30 min (IB-5 ion coater, Eiko Co.), the
cross-sections were stuck on double-adhesive tape fixed to a metallic stud. The starch granules were visualised with an electron
microscope (TM-1000, Tabletop Microscope, Hitachi, Ltd., Japan) at
15 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.3. สแกนอิเล็กตรอน (SEM)ข้าวถูกทำลายด้วยตนเอง หลังจากเคลือบด้วยไอออน Ptในบรรยากาศอาร์กอนสำหรับผู้เดินทางคนเดียว (IB-5 ไอออน coater บริษัท Eiko), การส่วนข้ามติดอยู่บนเตียงกาวยึดติดโลหะ เม็ดแป้งถูก visualised กับอิเล็กตรอนมีกล้องจุลทรรศน์ (TM-1000 โต๊ะกล้องจุลทรรศน์ ฮิตาชิ จำกัด ญี่ปุ่น) ที่15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.3 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)
ข้าวกล้องเสียด้วยตนเอง หลังจากการเคลือบด้วย Pt ไอออน
ในชั้นบรรยากาศอาร์กอนสำหรับ 30 นาที (IB-5 Coater ไอออน Eiko จำกัด ) ที่
ข้ามส่วนติดอยู่บนเทปสองกาวจับจ้องไปที่แกนโลหะ เม็ดแป้งถูกมองเห็นด้วยอิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ (TM-1000 โต๊ะกล้องจุลทรรศน์ฮิตาชิ จำกัด ประเทศญี่ปุ่น) ที่
15 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.3 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )ข้าวกล้องเสียเอง หลังจากเคลือบด้วยแพลทินัมไอออนในบรรยากาศอาร์กอนเป็นเวลา 30 นาที ( เครื่องเคลือบไอออน ib-5 เอโกะ Co . ) ,และยังติดเทปกาวสองคงที่เป็นแกนโลหะ แป้งเม็ดได้มองเห็นกับอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ ( tm-1000 โต๊ะ , กล้องจุลทรรศน์ , Hitachi , Ltd . , ญี่ปุ่น )15 kV .