Structural characterization was the

Structural characterization was then performed by XRD using a Philips X'pert MRD diffractometer with Cu Kα (λ=1.542 nm) radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คุณลักษณะโครงสร้างแล้วทำ โดยใช้ diffractometer Philips X'pert MRD Cu Kα XRD (λ = 1.542 nm) รังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะโครงสร้างที่ได้ดำเนินการแล้วโดย XRD ใช้ diffractometer Philips X'pert MRD กับ Cu Kα (λ = 1.542 นาโนเมตร) รังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลักษณะโครงสร้างแล้วโดย XRD ใช้ Philips x"pert MRD ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ Cu K α ( λ = 1.542 nm ) รังสี