PXRD pattern. The main disagreement

PXRD pattern. The main disagreement can be seen on the
peak at about 2θ = 40°. This could be caused by neglecting
possible preferred orientations of nanotubes in the calculations.
Our specimens for PXRD in reflection mode were
prepared on glass substrate. It is very probable that the
nanotubes were lying on the holder so that in symmetrical
Bragg–Brentano diffraction they can be hardly seen along
the b axis. Preliminary studies of preferred orientation with
the aid of the Eulerian cradle showed significant changes
of the diffraction pattern with the specimen inclination and
the narrow diffraction peak 020 increased with the sample inclination.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลาย PXRD สามารถเห็นกันหลักบน
ช่วงที่เกี่ยวกับ 2θ = 40 องศาได้ นี้อาจเกิดจาก neglecting
สุดแนวของ nanotubes ในการคำนวณที่ต้องการ
ของเราไว้เป็นตัวอย่างสำหรับ PXRD ในโหมดสะท้อนถูก
เตรียมบนพื้นผิวแก้วได้ จึงน่าเป็นมากที่
nanotubes ถูกนอนถือให้ได้สมมาตร
พวกเขาจะไม่เห็นได้ตามการเลี้ยวเบน Bragg–Brentano
แกน b ศึกษาเบื้องต้นของแนวที่ต้องการด้วย
ความช่วยเหลือของอู่แบบออยเลอร์แสดงให้เห็นว่าการเปลี่ยนแปลงอย่างมีนัยสำคัญ
ของลวดลายการเลี้ยวเบนที่มีความเอียงของตัวอย่าง และ
พีคการเลี้ยวเบนที่แคบ 020 เพิ่มกับความเอียงของตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบ pxrd. ความขัดแย้งหลักที่สามารถมองเห็นได้บน
สูงสุดที่ประมาณ 2 θ= 40 ° ซึ่งอาจเกิดจากเราละเลย
ซึ่งจะช่วยกำหนดทิศทางที่ต้องการเป็นไปได้ของ nanotubes ในการคำนวณขนาดของแหล่งจ่ายไฟที่.
เป็นตัวอย่างของเราสำหรับ pxrd ในโหมดสะท้อน
ซึ่งจะช่วยได้เตรียมไว้บนผิวหน้ากระจก น่าจะเป็นไปได้อย่างมากที่
nanotubes ก็นอนอยู่บนที่ใส่จะทำให้ในแบบสมมาตร
พร่าเลือนของ bragg-brentano พวกเขาสามารถแทบไม่เห็นไปตาม
B แกน. จากการศึกษาเบื้องต้นของการวางตำแหน่งที่ต้องการพร้อมด้วยความช่วยเหลือของแท่นรอง
eulerian ที่แสดงให้เห็นการเปลี่ยนแปลงอย่างมีนัยสำคัญในรูปแบบ
ซึ่งจะช่วยพร่าเลือนของที่พร้อมด้วยตัวอย่างที่โอนเอียงและ
ซึ่งจะช่วยให้แคบพร่าเลือนของสูงสุด 020 เพิ่มขึ้นด้วยความโน้มเอียงตัวอย่าง