When measuring high-resistivity mat

When measuring high-resistivity material (standard value Rx > 20MΩ), small current can not be applied stably. Therefore,
the constant-voltage process of applying constant voltage and measuring leak current is used. The material condition of
the surface is different from the one of the inside. It’s necessary for material control that indicating condition by each index.
The surface resistivity is results of surface condition and the volume resistivity is one of inside condition. They’re defined
on JIS K 6911-2006 or ASTM standard.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อวัดความต้านทานสูงวัสดุ (ค่ามาตรฐานจำนวน > 20MΩ), เล็กปัจจุบันไม่สามารถใช้ stably ได้ ดังนั้นใช้แรงดันไฟฟ้าคงกระบวนการใช้แรงดันไฟฟ้าคง และวัดรั่วไหลปัจจุบัน สภาพของวัสดุผิวจะแตกต่างจากภายใน มันเป็นสิ่งจำเป็นสำหรับวัสดุควบคุมสภาพที่บ่งชี้ โดยแต่ละดัชนีความต้านทานพื้นผิวคือ ผลของสภาพผิว และความต้านทานปริมาณเป็นหนึ่งในเงื่อนไข พวกเขาจะกำหนดบนมาตรฐาน ASTM หรือ JIS K 6911-2006

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เมื่อวัดวัสดุต้านทานสูง (ค่ามาตรฐาน Rx> 20MΩ) ขนาดเล็กในปัจจุบันไม่สามารถใช้เสถียร ดังนั้น
กระบวนการคงที่แรงดันไฟฟ้าของการใช้แรงดันคงที่และการวัดกระแสรั่วไหลถูกนำมาใช้ สภาพของวัสดุ
พื้นผิวที่แตกต่างกันจากหนึ่งภายใน มันจำเป็นสำหรับการควบคุมเนื้อหาที่แสดงให้เห็นสภาพโดยแต่ละดัชนี.
ความต้านทานพื้นผิวเป็นผลของสภาพพื้นผิวและปริมาณความต้านทานเป็นหนึ่งในเงื่อนไขภายใน พวกเขากำลังที่กำหนดไว้
ในมาตรฐาน JIS K 6911-2006 หรือมาตรฐาน ASTM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อวัดค่าความต้านทานสูง ( จำนวนค่าวัสดุมาตรฐาน 20m Ω ) ปัจจุบันเล็กไม่สามารถนำมาใช้อย่างถาวร ดังนั้น กระบวนการของการใช้
คงที่แรงดันคงที่แรงดันและวัดกระแสรั่วใช้ วัสดุสภาพ
ผิว แตกต่างจาก หนึ่งใน ภายใน มันเป็นสิ่งจำเป็นสำหรับการควบคุมวัสดุที่แสดงเงื่อนไขแต่ละดัชนี
พื้นผิวจำเพาะคือผลลัพธ์ของภาพพื้นผิวและปริมาณความต้านทานเป็นหนึ่งของเงื่อนไขภายใน พวกเขาถูกกำหนดใน JIS K
6911-2006 หรือ ASTM มาตรฐาน