at room temperature in an electron-

at room temperature in an electron-beam evaporation system
(ca. 5 × 10-6 Torr; 1 Torr = 133 Pa). The experimental apparatus includes
a horizontal tube furnace, a rotary pump system, and a gas-supply
system. A mixture of commercial ZnO and graphite powders in a
ratio of ZnO/C= 4:1 was placed in an alumina boat, which was heated
to a peak temperature of 1100 °C. The Al2O3 substrate was placed in
the temperature zone of ca. 800 °C for collecting the ZnO nanostructures.
After the tube had been evacuated to a pressure of 1 × 10–3 Torr,
the samples were heated to 1100 °C at a rate of 5 °Cmin–1 and held at
1100 °C for 60 min with a carrier gas of Ar and O2 flowing through
the tube. The substrate-bound ZnO NW arrays were mechanically
scraped off and sonicated in ethanol, then deposited on a Si substrate
covered with a Si3N4 layer as insulator.
The scraped NWs were placed on carbon-coated copper grids
for TEM characterization. Morphological studies of grown ZnO
nanostructures were performed with a JEOL 2010 TEM instrument
operating at 200 kV and a JEOL JSM-6500 field-emission scanning
electron microscope. HRTEM images were obtained by using a
JEOL JEM-3000F field-emission TEM instrument, with a point-topoint
resolution of 0.17 nm, operating at 300 kV.
The performance of in situ I–V measurements and the manipulation
of ZnO NWs were carried out in an MPNEM system. The
two-terminal method was applied for electrical transport measurements.
As all of the procedures were carried out at a pressure of
ca. 5 × 10–4 Pa, possible influences from the environment could be
minimized. The MPNEM system is composed of several subsystems:
1) field-emission SEM gun (JEOL JSM-7000F); 2) nanomanipulator
system (four-needle experimental probing device, Kammrath & Wiess
GmbH); and 3) an I–V measurement system (Keithley Model 4200

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ที่อุณหภูมิห้องในระบบระเหยลำแสงอิเล็กตรอน(ca. ธอร์ 5 × 10-6 ธอร์ 1 = 133 ป่า) มีเครื่องทดลองเตาท่อแนวนอน ระบบปั๊มโรตารี่ และการจัด หาก๊าซระบบ ส่วนผสมของผง ZnO และแกรไฟต์ที่เชิงพาณิชย์ในการอัตราส่วนของ ZnO/C = 4:1 ถูกวางเป็นเรืออลูมินา ซึ่งถูกความร้อนการอุณหภูมิสูง 1100 องศาเซลเซียส พื้นผิว Al2O3 ถูกวางไว้ในเขตอุณหภูมิของ ca 800 ° C สำหรับ ZnO nanostructures รวบรวมหลังจากหลอดได้อพยพไปยังความดัน 1 × 10 – 3 ธอร์ตัวอย่างที่อุณหภูมิ 1100 ° C ในอัตรา 5 ° Cmin – 1 และจัดขึ้นที่1100 ° C สำหรับ 60 นาทีผู้ขนส่งน้ำมันของ Ar และ O2 ไหลผ่านหลอด เรย์ ZnO NW พื้นผิวแบบผูกมีกลไกขูดออก และ sonicated ในเอทานอล แล้ว ฝากบนกับพื้นผิวศรีปกคลุม ด้วยชั้น Si3N4 เป็นฉนวนกันความร้อนScraped NWs ถูกวางบนกริดทองแดงเคลือบคาร์บอนสำหรับยการจำแนก ศึกษาสัณฐานของ ZnO ปลูกnanostructures ดำเนินกับตรายการ JEOL 2010ปฏิบัติการ 200 kV และ JEOL JSM-6500 ฟิลด์มลพิษการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ภาพ HRTEM ได้รับมาโดยการJEOL JEM 3000F ฟิลด์มลพิษยการอุปกรณ์ มีจุด-topointความละเอียดของ 0.17 nm ปฏิบัติ 300 kVประสิทธิภาพของการวัดใน situ ฉัน – V และการจัดการของ ZnO NWs ได้ดำเนินการในระบบ MPNEM ที่เทอร์มินัล 2 วิธีที่ใช้สำหรับการขนส่งไฟฟ้าประเมินเป็นขั้นตอนทั้งหมดได้ดำเนินการที่ความดันของca. 5 × 10 – 4 Pa อาจมีผลต่อจากสิ่งแวดล้อมอาจย่อ ระบบ MPNEM ประกอบด้วยหลายย่อย:1) ปืน SEM ฟิลด์มลพิษ (JEOL JSM-7000F); 2) nanomanipulatorระบบ (4 เข็มทดลองอาศัยอุปกรณ์ Kammrath และ WiessGmbH); และ 3) ระบบการวัด – V (Keithley รุ่น 4200

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ที่อุณหภูมิห้องในระบบการระเหยลำแสงอิเล็กตรอน
(แคลิฟอร์เนีย 5 × 10-6 Torr 1 Torr = 133 ป่า) อุปกรณ์การทดลองรวมถึง
เตาหลอดแนวนอน, ระบบปั๊มโรตารี่และก๊าซอุปทาน
ระบบ ส่วนผสมของซิงค์ออกไซด์ในเชิงพาณิชย์และผงแกรไฟต์ใน
อัตราส่วนของซิงค์ออกไซด์ / C = 4: 1 วางอยู่ในเรืออลูมิเนียมซึ่งเป็นความร้อน
ที่อุณหภูมิสูงสุดของ 1100 ° C พื้นผิว Al2O3 วางอยู่ใน
โซนอุณหภูมิของแคลิฟอร์เนีย 800 ° C สำหรับการเก็บรวบรวมโครงสร้างนาโนซิงค์ออกไซด์.
หลังจากหลอดได้รับการอพยพไปยังความดันของ 1 × 10-3 Torr,
ตัวอย่างร้อนถึง 1,100 ° C ที่อัตรา 5 ° Cmin-1 และจัดขึ้นที่
1,100 องศาเซลเซียส 60 นาทีกับก๊าซพาหะของ Ar และ O2 ที่ไหลผ่าน
ท่อ ผูกพันพื้นผิวอาร์เรย์ ZnO NW ถูกกล
หลุดออกและ sonicated ในเอทานอลแล้วฝากบนพื้นผิวศรี
ปกคลุมด้วยชั้น Si3N4 เป็นฉนวนกันความร้อน.
NWS ขูดถูกวางไว้บนตะแกรงทองแดงคาร์บอนเคลือบ
สำหรับลักษณะ TEM การศึกษาทางสัณฐานวิทยาของซิงค์ออกไซด์ที่ปลูก
โครงสร้างนาโนได้รับการดำเนินการกับตราสาร JEOL 2010 TEM
การดำเนินงานที่ 200 กิโลโวลต์และ JEOL JSM-6500 สนามการปล่อยสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ภาพ HRTEM ที่ได้รับโดยใช้
JEOL JEM-3000F-field การปล่อยเครื่องมือ TEM มีจุด TOPOINT
ความละเอียด 0.17 นาโนเมตรในการดำเนินงานที่ 300 kV.
ประสิทธิภาพการทำงานของในแหล่งกำเนิดวัด I-V และการจัดการ
ของซิงค์ออกไซด์ NWS ได้ดำเนินการ ในระบบ MPNEM
วิธีการสองขั้วถูกนำมาใช้สำหรับการตรวจวัดการขนส่งไฟฟ้า.
ในฐานะที่เป็นทุกขั้นตอนได้ดำเนินการที่ความดันของ
แคลิฟอร์เนีย 5 × 10-4 ป่าอิทธิพลจากสภาพแวดล้อมที่เป็นไปได้อาจจะ
ลดลง ระบบ MPNEM ประกอบด้วยระบบย่อยหลาย
1) ข้อมูลการปล่อยปืน SEM (JEOL JSM-7000F); 2) Nanomanipulator
ระบบ (สี่เข็มทดลองอุปกรณ์แหย่, Kammrath & Wiess
GmbH); และ 3) ระบบการวัดฉัน-V (Keithley รุ่น 4200

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่อุณหภูมิห้องในระบบการระเหยลำแสงอิเล็กตรอน
( ประมาณ 5 ×สามารถทอร์ 1 ทอร์ = 133 PA ) เครื่องมือทดลองรวมถึง
เตาหลอดแนวนอน ระบบปั๊มแบบโรตารี่ และระบบประปา
ก๊าซ ส่วนผสมของซิงค์ออกไซด์ในเชิงพาณิชย์และผงแกรไฟต์ในอัตราส่วน P /
c = 4 : 1 ที่ถูกวางไว้ในเรือ อลูมินา ซึ่งให้ความร้อน
กับอุณหภูมิสูงสุด 1 , 100 ° C อะลูมิเนียมพื้นผิวที่ถูกวางไว้ใน
อุณหภูมิประมาณ 800 องศา C โซนเก็บนาโนซิงค์ออกไซด์ .
หลังจากหลอดได้อพยพไปยังความดัน 1 × 10
3 ทอร์ ) , จำนวนถึง 1 , 100 องศา C อุ่นในอัตรา 5 / 1 Phase ) และคณะ
1 , 100 องศา C นาน 60 นาทีกับผู้ให้บริการก๊าซ AR และ O2
ไหลผ่านท่อ พื้นผิวผูกอาร์เรย์มีการซิงค์ออกไซด์ NW
ขูดออก และ sonicated ในเอทานอลงั้นฝากบนพื้นผิวที่ปกคลุมด้วยชั้นซิ

ดิฟเป็นฉนวน ขูด NWS ไว้คาร์บอนเคลือบทองแดงแบบกริด
สำหรับตัวละคร การศึกษาลักษณะโครงสร้างของซิงค์ออกไซด์นาโนโตได้ด้วย

ใช้เครื่องมือแบบจอล 2010 ที่ 200 กิโลและจอล jsm-6500 ฟิลด์การสแกน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน hrtem ภาพได้โดยใช้
จอล jem-3000f สนามเต็มๆ ด้วยการใช้ความละเอียดของจุด topoint
28 nm , งาน 300 KV .
การปฏิบัติใน situ ฉัน– 5 การวัดและการจัดการ
ของ ZnO NWS ได้ดำเนินการใน mpnem ระบบ
สองขั้ว วิธีประยุกต์สำหรับการวัดการขนส่งไฟฟ้า
เป็นทั้งหมดของกระบวนการทดลองที่ความดันประมาณ 5 × 10
- 4 PA ,ได้รับอิทธิพลจากสภาพแวดล้อมสามารถ
น้อยที่สุด ระบบ mpnem ประกอบด้วยหลายระบบ :
1 ) ด้านการ SEM ปืน ( จอล jsm-7000f ) ; 2 ) ระบบ nanomanipulator
( สี่เข็ม ทดลองตรวจสอบอุปกรณ์ kammrath &วีส
GmbH ) ; และ 3 ) ฉัน– V ระบบวัดแบบ 4200 คีทลีย์