Additionally, the surface morpholog

Additionally, the surface morphology
and elemental composition in cross-sections of the specimens were
examined by a JEOL 840A scanning electron microscope (SEM) equipped
with an OXFORD INCA energy-dispersive spectroscopy (EDS) analyzer.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกจากนี้ สัณฐานวิทยาผิวและองค์ประกอบธาตุใน cross-sections ไว้เป็นตัวอย่างตรวจสอบ โดยการ JEOL 840A การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) พร้อมด้วยการอินคาอ๊อกกพลังงาน dispersive (EDS) วิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นอกจากนี้ลักษณะพื้นผิวและองค์ประกอบของธาตุในข้ามส่วนของตัวอย่างที่ถูกตรวจสอบโดยJEOL 840A กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) การติดตั้งที่มีสเปคโทรOXFORD INCA พลังงานกระจาย (EDS) วิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นอกจากนี้ ลักษณะพื้นผิวและองค์ประกอบของธาตุ

และทำการตรวจสอบโดยจอล 840a กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ติดตั้ง
กับฟอร์ด อินคาพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) วิเคราะห์