2.5. Scanning electron microscopySc

2.5. Scanning electron microscopy
Scanning electron microscopy was carried out following the
method described by Karnovsky[21] under high vacuum using a
microscope Zeiss Supra 55VP (Carl Zeiss, Oberkochen, Germany).
Samples were processed and observed in the Centro Integral de
Microscopía Electr
onica (CIME), CCT-CONICET-UNT, San Miguel de
Tucum
an (Argentina).
2.6. Statistical analysis

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.5. microscopy อิเล็กตรอนสแกนการสแกน microscopy อิเล็กตรอนถูกดำเนินการดังต่อไปนี้วิธีที่อธิบายไว้ โดย Karnovsky [21] ภายใต้การใช้เครื่องดูดฝุ่นสูงเป็นกล้องจุลทรรศน์ 55VP นี้ Zeiss (Carl Zeiss, Oberkochen เยอรมนี)ตัวอย่างการประมวลผล และในทฤษฎีบูรณาการเซ็นโทรเดอOnica Microscopía Electr (CIME), CCT-CONICET-UNT, San Miguel deTucum (อาร์เจนตินา)2.6. สถิติวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนได้ดำเนินการดังต่อไปนี้วิธีการอธิบายโดยKarnovsky [21] ภายใต้สุญญากาศสูงโดยใช้กล้องจุลทรรศน์Zeiss Supra 55VP (Carl Zeiss, Oberkochen เยอรมนี). ตัวอย่างการประมวลผลและสังเกตใน Centro Integral เดMicroscopía Electr? onica (CIME) CCT-CONICET-UNT, San Miguel de Tucum? (ที่อาร์เจนตินา). 2.6 การวิเคราะห์ทางสถิติ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.5 การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดพบว่าต่อไปนี้
วิธีอธิบายโดย karnovsky [ 21 ] ภายใต้สูญญากาศสูงโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ Zeiss ซูปร้า
55vp ( Carl Zeiss oberkochen , เยอรมนี ) .
จำนวนการประมวลผลและตรวจสอบใน Centro de
microscop íเป็นส่วนประกอบไฟฟ้า
onica ( Cime ) cct-conicet-unt , ซาน มิเกลเดอ
tucum
( อาร์เจนตินา ) .
2.6 สถิติที่ใช้ในการวิเคราะห์ข้อมูล