AbstractA near-field scanning optic

Abstract
A near-field scanning optical microscope with a metallic probe tip was developed for detecting localized photons near the surface of the fine structure of a sample. In this microscope a metallic probe is used for converting the evanescent photons localized near the sample surface to the propagating scattering light wave; the scattered light is detected in the far field with external condenser optics. During the measurement the probe tip vibrates normal to the surface with an amplitude of ~5 nm at 2.5 kHz, and the light intensity modulated with this frequency is lock-in detected. This operation permits the removal of stray-light noise contribution. Experimental results of the measurements of the exponential decay of the evanescent field produced by total internal reflection are given with and without the probe vibration. Image data of the surface profile of an optical compact disk are also shown.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทคัดย่อใกล้เขตแสงกล้องจุลทรรศน์สแกน ด้วยปลายโพรบโลหะได้รับการพัฒนาสำหรับการตรวจสอบท้องถิ่น photons ใกล้พื้นผิวของการปรับโครงสร้างของตัวอย่าง ในกล้องจุลทรรศน์นี้ ใช้โพรบโลหะสำหรับการแปลง photons evanescent ภาษาท้องถิ่นใกล้พื้นผิวตัวอย่างเพื่อเผยแพร่ scattering แสงคลื่น มีการตรวจพบไฟกระจายในฟิลด์ไกลกับแสงภายนอกเครื่องควบแน่น ในระหว่างการประเมิน ปลายโพรบสั่นสะเทือนปกติผิวด้วยคลื่นการ ~ 5 nm ที่ 2.5 kHz และความเข้มแสงที่สันทัดกับความถี่นี้เป็นล็อคพบ การดำเนินการนี้อนุญาตให้เอาส่วนไตรโลกแสงเสียง ผลการทดลองวัดผุเนนของฟิลด์ evanescent ผลิต โดยสะท้อนกลับทั้งหมดจะได้รับด้วย และไม่ มีการสั่นสะเทือนโพรบ ยังมีแสดงข้อมูลในรูปของโพรไฟล์ที่พื้นผิวของดิสก์มีขนาดเล็กแสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อ
การสแกนที่อยู่ใกล้เขตกล้องจุลทรรศน์ด้วยปลายสอบสวนโลหะได้รับการพัฒนาสำหรับการตรวจจับโฟตอนที่มีการแปลที่อยู่ใกล้พื้นผิวของปรับโครงสร้างของกลุ่มตัวอย่าง ในกล้องจุลทรรศน์นี้สอบสวนโลหะที่ใช้สำหรับการแปลงโฟตอนเลือนหายไปแปลเป็นภาษาท้องถิ่นที่อยู่ใกล้พื้นผิวตัวอย่างเพื่อขยายพันธุ์กระจายคลื่นแสง; แสงกระจายมีการตรวจพบในเขตห่างไกลด้วยเลนส์คอนเดนเซอร์ภายนอก ในช่วงปลายสอบสวนวัดแรงสั่นสะเทือนตามปกติกับพื้นผิวที่มีความกว้างของ ~ 5 นาโนเมตรที่ 2.5 kHz และปรับความเข้มของแสงที่มีความถี่นี้เป็นล็อคในการตรวจพบ การดำเนินการนี้ช่วยให้การกำจัดของการสนับสนุนเสียงจรจัดแสง ผลการทดลองของการวัดของการสลายการชี้แจงของสนามหายที่ผลิตโดยการสะท้อนภายในทั้งหมดจะได้รับมีและไม่มีการสั่นสะเทือนสอบสวน ข้อมูลภาพของรายละเอียดพื้นผิวของคอมแพคดิสก์แสงนอกจากนี้ยังมีการแสดง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

บทคัดย่อ : ใกล้กล้องจุลทรรศน์แสงด้วยปลายโพรบโลหะได้รับการพัฒนาสำหรับการตรวจหาถิ่นประกอบด้วยใกล้พื้นผิวของโครงสร้างละเอียดของตัวอย่าง ในกล้องจุลทรรศน์นี้สอบสวนโลหะใช้สำหรับการแปลงอย่างรวดเร็วประกอบด้วยถิ่นที่อยู่ใกล้พื้นผิวตัวอย่างเพื่อการเผยแผ่กระจายคลื่นแสง ;การกระจายแสงที่ตรวจพบในเขตห่างไกลกับเลนส์คอนเดนเซอร์ภายนอก ระหว่างการวัดด้วยปลายสั่นปกติกับพื้นผิวที่มีแอมพลิจูดของ ~ 5 nm ที่ 2.5 kHz , และความเข้มแสงที่ปรับความถี่นี้เป็นเทคโนโลยีที่ตรวจพบ งานนี้ อนุญาตให้เอาของหลงแสงเสียงผลงานผลของการวัดค่าของเลขชี้กำลังของการสลายตัวอย่างรวดเร็วสนามที่ผลิตโดยการสะท้อนกลับทั้งหมดจะได้รับและไม่มีตรวจสอบการสั่นสะเทือน ข้อมูล รูปภาพ ของพื้นผิวโปรไฟล์ของคอมแพคดิสก์แสงยังแสดง