2.5.1. Maximum indentation depth: 2

2.5.1. Maximum indentation depth: 20 µm (larger depths on request)
2.5.2. Theoretical displacement resolution: 0.002 nm
2.5.3. Typical displacement noise floor:  0.3 nm
2.6. Thermal drift: 0.004 nm/s or better.
2.7. User definable contact load, useful for testing rough surfaces.
2.8. Fused silica and tungsten reference samples for instrument performance monitoring.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.5.1 ความลึกเยื้องสูงสุด: 20 µm (ใหญ่ลึกตามคำขอ)2.5.2 ปริมาณกระบอกสูบทฤษฎีความละเอียด: 0.002 nm 2.5.3 การปกติแทนเสียงชั้น:  0.3 nm 2.6 การร้อนดริฟท์: 0.004 nm/s หรือดีกว่า2.7 ผู้ใช้เองติดต่อโหลด ประโยชน์การทดสอบพื้นผิวหยาบ2.8. ซิลิก้า Fused และทังสเตนอ้างอิงตัวอย่างสำหรับการตรวจสอบประสิทธิภาพของเครื่องมือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5.1 เยื้องความลึกสูงสุด: 20 ไมครอน (ความลึกขนาดใหญ่ตามคำขอ)
2.5.2 ความละเอียดของการเคลื่อนที่ตามทฤษฎี: 0.002 นาโนเมตร
2.5.3 พื้นเสียงเคลื่อนที่ทั่วไป:  0.3 นาโนเมตร
2.6 ดริฟท์ความร้อน:. 0.004 นาโนเมตร / วินาทีหรือดีกว่า
2.7 ผู้ใช้โหลดรายชื่อผู้ติดต่อที่กำหนดที่มีประโยชน์สำหรับการทดสอบพื้นผิวขรุขระ.
2.8 ซิลิกาผสมและตัวอย่างอ้างอิงทังสเตนสำหรับการตรวจสอบประสิทธิภาพการทำงานของเครื่องมือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดาวน์โหลด . ความลึกสูงสุด : 20 µเยื้องม. ความลึกขนาดใหญ่บนขอ )
งานวาง . ทฤษฎีการแทนที่มติ : 0.002 nm
2.5.3 . โดยทั่วไปการพื้นเสียงดัง :  0.3 nm
2.6 ความร้อนลอย : 0.004 nm / s หรือดีกว่า
2.7 . โหลดติดต่อผู้ใช้กำหนดประโยชน์สำหรับทดสอบความขรุขระของพื้นผิว
2.8 . ซิลิกาและตัวอย่างการอ้างอิงทังสเตนสำหรับการตรวจสอบประสิทธิภาพเครื่องมือ