ConclusionIn this article, we have

Conclusion
In this article, we have presented the requirements, current status of fabrication/processing, electrical properties, and reliability issues of high-k dielectrics. We have considered two important processing steps out of many for their popularity. The electrical properties and reliability must be investigated further before high-k materials become an integral part of nanoscale CMOS devices.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทสรุปในบทความนี้ เราได้นำเสนอความต้องการ สถานะปัจจุบันของการผลิต/แปรรูป คุณสมบัติทางไฟฟ้า และปัญหาความน่าเชื่อถือของ dielectrics k สูง เราได้พิจารณาสองขั้นตอนประมวลผลสำคัญจากหลายความนิยมของพวกเขา คุณสมบัติทางไฟฟ้าและความน่าเชื่อถือต้องถูกตรวจสอบเพิ่มเติมก่อนที่ k สูงวัสดุเป็น ส่วนประกอบอุปกรณ์ CMOS nanoscale

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สรุป
ในบทความนี้เราได้นำเสนอความต้องการของสถานะปัจจุบันของการผลิต / การประมวลผล, คุณสมบัติทางไฟฟ้าและปัญหาความน่าเชื่อถือของ dielectrics สูง k เราได้มีการพิจารณาสองขั้นตอนการประมวลผลที่สำคัญจากหลายสำหรับความนิยมของพวกเขา คุณสมบัติทางไฟฟ้าและความน่าเชื่อถือจะต้องได้รับการตรวจสอบต่อไปก่อนวัสดุที่สูง k กลายเป็นส่วนหนึ่งของอุปกรณ์ CMOS ระดับนาโน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สรุป
ในบทความนี้ เราได้นำเสนอความต้องการ สถานะปัจจุบันของการผลิต / แปรรูป สมบัติทางไฟฟ้า และปัญหาความน่าเชื่อถือของไฮ เคได . ขณะนี้มีการพิจารณาที่สำคัญ 2 ขั้นตอนของการประมวลผลหลายสำหรับความนิยมของพวกเขาคุณสมบัติทางไฟฟ้าและความน่าเชื่อถือจะต้องสอบสวนเพิ่มเติม ก่อนวัสดุไฮ เคเป็นส่วนหนึ่งของ nanoscale
CMOS อุปกรณ์