Thermal runaway of metal oxide elem

Thermal runaway of metal oxide elements at high AC stress is caused by a positive
feedback process due to the temperature dependence of the resistive component of
leakage current.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เกิดจากการบวกรันอเวย์ความร้อนองค์ประกอบของโลหะออกไซด์ที่ความเครียดสูง ACป้อนกลับจากการอาศัยอุณหภูมิของส่วนประกอบของหน้ากระแสรั่วไหล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

หนีความร้อนของธาตุโลหะออกไซด์ที่ความเครียด AC สูงที่เกิดจากการบวก
กระบวนการข้อเสนอแนะเนื่องจากขึ้นอยู่กับอุณหภูมิขององค์ประกอบของตัวต้านทาน
กระแสไฟฟ้ารั่ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หนีความร้อนของธาตุโลหะออกไซด์ที่ AC สูง ความเครียดเกิดจากบวก
ติชมกระบวนการเนื่องจากอุณหภูมิขึ้นอยู่กับองค์ประกอบของความต้านทาน
การรั่วไหลในปัจจุบัน